[发明专利]粉粒体散布量检查装置和检查方法、及含粉粒体的物品的制造装置和制造方法有效
申请号: | 201980017821.7 | 申请日: | 2019-03-06 |
公开(公告)号: | CN111868485B | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | 平尚大 | 申请(专利权)人: | 花王株式会社 |
主分类号: | G01G13/16 | 分类号: | G01G13/16;G01N15/02 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;何中文 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 粉粒体 散布 检查 装置 方法 含粉粒体 物品 制造 | ||
制造装置(1)包括的粉粒体散布量检查装置(100),在将贮存于容器(2)内的粉粒体(P)排出并使其自由落下而散布至散布对象物(T)的粉粒体散布工序的实施期间,对粉粒体(P)的散布量进行检查,该粉粒体散布量检查装置(100)包括第一计测机构(101)和第二计测机构(102)。计测机构(101)用计量装置(4)在时间上连续地对容器(2)和粉粒体(P)的总质量进行计量,计测该总质量在规定时间t1内的变化量。计测机构(102)基于从用拍摄装置(11)对自由落下的粉粒体(P)进行拍摄并进行二值化处理而得到的数据获得的粉粒体(P)的累计像素、和由计测机构(101)计测到的该规定时间t1内的上述变化量,生成校准线,并基于该校准线,计测粉粒体散布工序的实施期间的某一定时间t2内的粉粒体(P)的散布量。
技术领域
本发明涉及在将容器内贮存的粉粒体散布于散布对象物的工序中利用的粉粒体散布量检查装置和检查方法。此外,本发明还涉及含粉粒体的物品的制造装置和制造方法。
背景技术
作为将料斗等容器中贮存的粉粒体输送、供给到该容器的外部的方法,已知使粉粒体的输送通道振动的方法。在该方法中,通过调节输送通道的振动强度,能够调节粉粒体的流量(每单位时间的输送量)。作为这样的粉粒体的流量计测方法,已知对容器中贮存的粉粒体的质量连续地进行计测,计算出每单位时间的质量变化(质量减少量),将该每单位时间的质量变化作为粉体的流量的、所谓的重量损失(Loss in Weight)方式下的流量计测方法。此外,为了使粉粒体的流量为期望的值,进行以下处理:使用按重量损失方式算出的流量,实施振动强度等驱动条件的反馈控制,获得稳定的固定流量(例如专利文献1和2)。
此外,关于检查粉粒体的输送、供给量的技术,至今按照检查目的提出了几个方案。例如专利文献3中记载了如下所述的方法:使用红外线或近红外线CCD照相机,测量输送传送机上的还原铁颗粒等高温粒状物集合体的质量等。该方法中,照相机捕捉由温度差引起的图像浓度的差异,求出上述集合体的面积,利用校准线(calibration curve)换算为质量。由此,掌握作为粒状物集合体的输出源的回转炉内壁的附着物的生长状况。
专利文献4中记载了能够在进行散布期间连续地检测构成产品的粉粒体的质量的粉粒体的质量检查装置。该装置中,基于从检查初始阶段的二值化图像数据得到的粉粒体的像素、和在粉粒体的落下轨道的下方由质量测量部在规定时间测量的粉粒体的质量,生成将像素与质量的对应关系以一次函数表示的基准校准线,进一步,基于该基准校准线和从该二值化图像数据算出的检查初始阶段的粉粒体的粒径,算出检查对象的粉粒体的粒径,使用该粒径的算出值,修正该基准校准线的斜率而生成修正校准线。然后,根据拍摄到的各二值化图像数据的像素,基于上述修正校准线,计测粉粒体的质量值即散布量。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开平11-160138号公报
专利文献2:日本特开2000-55721号公报
专利文献3:日本特开2002-5637号公报
专利文献4:日本特开2017-116260号公报
发明内容
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