[发明专利]检测装置、运算装置、控制装置及电动助力转向装置

说明书

本发明提供了检测装置、运算装置、控制装置及电动助力转向装置。主检测元件(131、231)检测根据检测对象(875)的旋转而变化的物理量。子检测元件(132、232)检测根据检测对象的旋转而变化的物理量。信号处理部(140、240)输出与主检测元件的检测值对应的信息亦即主旋转信息、以及与子检测元件的检测值对应的信息亦即子旋转信息。封装体(351～360)密封主检测元件、子检测元件以及信号处理部。全部的主检测元件以及子检测元件的中心被配置在偏离检测对象的检测中心的位置。主检测元件被配置在比子检测元件还接近检测中心的位置。封装体配置在其中心偏离检测中心的位置。

相关申请的交叉引用

本申请主张于2018年3月20日申请的日本专利申请编号2018－52369号、以及于2019年2月12日申请的日本专利申请编号2019－22545号的优先权，并在此引用其全部内容。

技术领域

本公开涉及检测装置、运算装置、控制装置、以及使用其的电动助力转向装置。

背景技术

以往，已知有具有多个传感器部的旋转角检测装置。例如在专利文献1中，将多个传感器配置为相对于旋转中心点对称。

专利文献1：日本特开2016－145813号公报

若将多个传感器配置为点对称，则各个传感器与旋转中心之间的距离恒定，所以为了能够担保全部的传感器的检测精度，需要增大磁铁的大小、厚度，降低磁通畸变所带来的影响。

发明内容

本公开的目的在于提供能够抑制检测对象的大型化，并确保检测精度的检测装置、运算装置、控制装置、以及使用其的电动助力转向装置。

本公开的检测装置具备主检测元件、子检测元件、信号处理部以及封装体。主检测元件检测根据检测对象的旋转而变化的物理量。子检测元件检测根据检测对象的旋转而变化的物理量。信号处理部输出与主检测元件的检测值对应的信息亦即主旋转信息、以及与子检测元件的检测值对应的信息亦即子旋转信息。封装体密封主检测元件、子检测元件以及信号处理部。

在第一方式以及第二方式中，全部的主检测元件以及子检测元件的中心被配置在偏离检测对象的检测中心的位置。主检测元件被配置在与子检测元件相比接近检测中心的位置。在第一方式中，封装体被配置在其中心偏离检测中心的位置。在第二方式中，子检测元件配置在从连接主检测元件的中心与检测中心的直线上偏离的位置。在第三方式中，主检测元件和子检测元件的与元件相关的构成不同。

本公开的运算装置具备信号获取部、运算部、以及异常判定部。信号获取部获取与配置在偏离检测对象的检测中心的位置的子检测元件的检测值对应的子旋转信息、以及与配置在偏离检测对象的检测中心且与子检测元件相比接近检测中心的位置的主检测元件的检测值对应的主旋转信息。运算部基于主旋转信息进行控制运算。异常判定部基于主旋转信息以及子旋转信息判定异常。

本公开的控制装置具备检测装置和运算装置。检测装置具有主检测元件、子检测元件以及信号处理部。主检测元件检测根据检测对象的旋转而变化的物理量。子检测元件检测根据检测对象的旋转而变化的物理量。信号处理部将与主检测元件的检测值对应的主旋转信息、以及与子检测元件的检测值对应的子旋转信息输出给运算装置。

运算装置具有包括信号获取部、运算部、以及异常判定部的控制部。信号获取部从检测装置获取主旋转信息以及子旋转信息。运算部使用主旋转信息进行控制运算。异常判定部基于主旋转信息以及子旋转信息判定检测装置的异常。

全部的主检测元件以及子检测元件的中心被配置在偏离检测对象的检测中心的位置。主检测元件被配置在与子检测元件相比接近检测中心的位置。由此，能够抑制检测对象的大型化，并确保主检测元件的检测精度。另外，由于使用基于主检测元件的检测值的主旋转信息进行控制运算，所以能够精度良好地进行控制运算。

附图说明