[发明专利]光测距装置有效
申请号: | 201980014440.3 | 申请日: | 2019-02-15 |
公开(公告)号: | CN111742241B | 公开(公告)日: | 2023-09-29 |
发明(设计)人: | 木村祯祐;高井勇 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | G01S17/89 | 分类号: | G01S17/89;G01S17/10 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 舒艳君;王海奇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测距 装置 | ||
1.一种光测距装置,该光测距装置(10),具备:
光源部(30),向预先决定的范围照射光;
受光部(12),具有多个受光元件,上述受光元件能够根据来自被照射上述光的物体的反射光的入射而输出脉冲信号;
加法部(52),将从各上述受光元件输出的脉冲信号的数量相加来求出加法值;
直方图生成部(54),生成按每个飞行时间记录上述加法值的直方图,上述飞行时间表示从上述光的照射到受光为止的时间;
峰值检测部(56),从上述直方图检测峰值,获取上述峰值处的上述加法值作为信号强度,并且根据与上述峰值对应的上述飞行时间求出距离值;
图像生成部(58),将上述信号强度与和上述范围对应的区域所包含的各要素建立对应关系来生成信号强度图像数据,并且将上述距离值与和上述范围对应的区域所包含的各要素建立对应关系来生成距离图像数据;
低信号强度要素检测部(62),从上述信号强度图像数据检测具有比预先决定的阈值的低的信号强度的低信号强度要素;以及
图像修正部(64),基于其它要素的距离值,对上述距离图像数据中的、与上述低信号强度要素对应的对象要素中记录的距离值进行修正。
2.根据权利要求1所述的光测距装置,其中,
上述图像修正部基于上述对象要素的周围的像素的距离值对上述对象要素中记录的距离值进行修正。
3.根据权利要求1所述的光测距装置,其中,
上述图像修正部基于过去生成的距离图像数据中的上述对象要素中记录的距离值对上述对象要素中记录的距离值进行修正。
4.根据权利要求1所述的光测距装置,其中,
上述图像修正部基于上述对象要素的周围的像素的距离值、和过去生成的距离图像数据中的上述对象要素中记录的距离值对上述对象要素中记录的距离值进行修正。
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