[发明专利]使用太赫兹的用于片材产品的扫描厚度和基重传感器在审

专利信息
申请号: 201980012943.7 申请日: 2019-03-05
公开(公告)号: CN111712729A 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 塞巴斯蒂安·蒂克西尔 申请(专利权)人: 霍尼韦尔有限公司
主分类号: G01S13/88 分类号: G01S13/88;G01S17/88;G01B7/14
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马爽;臧建明
地址: 加拿大安大略*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 使用 赫兹 用于 产品 扫描 厚度 传感器
【权利要求书】:

1.一种用于测量连续片材的至少一个特性的扫描传感器,所述连续片材具有第一外侧、第二外侧、第一内侧和第二内侧,并且沿纵向行进,所述扫描传感器包括:

第一扫描仪头部(50),所述第一扫描仪头部邻近所述片材(10)的所述第一外侧设置并且包括透明材料层(28),所述透明材料层面向所述片材(10)的所述第一外侧,并且对太赫兹辐射是透明的,并且限定第一片材引导表面;

反射构件(18),所述反射构件具有反射太赫兹辐射并面向所述片材(10)的所述第二外侧的反射表面,其中所述反射表面限定第二片材引导表面,并且其中所述第一片材引导表面和所述第二片材引导表面限定测量间隙(26),所述连续片材(10)沿纵向行进穿过所述测量间隙;

太赫兹辐射源(80),所述太赫兹辐射源定位在所述第一扫描仪头部(50)中,并且被配置为产生太赫兹辐射,所述太赫兹辐射透射穿过所述透明材料层(28)并且朝向所述连续片材(10)的所述第一外侧;

温度稳定的Z传感器(61),所述Z传感器被配置为测量所述测量间隙(26)的距离;

检测器(82),所述检测器定位在所述第一扫描仪头部(50)中,所述检测器被配置为接收(i)从所述透明材料层(28)的内表面反射的第一太赫兹辐射,(ii)从所述片材(10)的所述第一外侧反射的第二太赫兹辐射,(iii)从所述片材(10)的第二内表面反射的第三太赫兹辐射,以及(iv)从所述反射表面反射的第四太赫兹辐射,其中所述检测器(82)被配置为输出与所述第一太赫兹辐射、所述第二太赫兹辐射、所述第三太赫兹辐射和所述第四太赫兹辐射的检测对应的测量数据;和

处理器(130),所述处理器与所述太赫兹辐射源(80)连通并且与所述检测器(82)连通,并且被配置为(i)基于所述第一太赫兹辐射、所述第二太赫兹辐射、所述第三太赫兹辐射和所述第四太赫兹辐射的到达时间而独立于所述片材(10)的折射率来确定所述片材(10)的厚度,并且/或者(ii)基于所述第一太赫兹辐射、所述第二太赫兹辐射、所述第三太赫兹辐射和所述第四太赫兹辐射的到达时间确定所述片材(10)的基重。

2.根据权利要求1所述的扫描传感器,其中所述第一扫描仪头部(50)包括容纳所述Z传感器(61)的壳体(59),并且所述第一扫描仪头部(50)包括用于调节所述壳体(59)内的环境温度的装置(130,132)。

3.根据权利要求1所述的扫描传感器,其中所述Z传感器(61)是磁传感器、电感传感器或涡流传感器。

4.根据权利要求3所述的扫描传感器,其中所述太赫兹辐射源(80)产生太赫兹辐射光束(92),并且其中所述磁传感器、所述电感传感器或所述涡流传感器(61)与所述太赫兹辐射光束(92)同心。

5.根据权利要求1所述的扫描传感器,其中所述太赫兹辐射源(80)产生太赫兹辐射的脉冲。

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