[发明专利]用于内窥镜的时间相关的源调制

权利要求书

1.一种用于内窥镜中使用的尖端上芯片产品，所述尖端上芯片产品包括：

第一多个源照射纤维，所述第一多个源照射纤维被配置为输送第一多个调制光子；

第二多个源照射纤维，所述第二多个源照射纤维被配置为输送第二多个调制光子；以及

第一相机芯片，所述第一相机芯片被配置为检测光，所述光包括可见光(VIS)、近红外光(NIR)、可见-近红外光(VIS-NIR)、短波红外光(SWIR)、扩展短波红外光(eSWIR)、近红外-扩展短波红外光(NIR-eSWIR)和它们的组合。

2.如权利要求1所述的尖端上芯片产品，其中所述第一相机芯片被配置为检测可见光(VIS)，并且进一步包括第二相机芯片，所述第二相机芯片被配置为检测可见光(VIS)。

3.如权利要求1所述的尖端上芯片产品，其中所述第一相机芯片被配置为检测可见光(VIS)，并且进一步包括第二相机芯片，所述第二相机芯片被配置为检测近红外光(NIR)。

4.如权利要求1所述的尖端上芯片产品，进一步包括与所述第一相机芯片一起提供的滤色器阵列，所述滤色器阵列包括BGGR、RGBG、GRGB、RGGB、RGBE、CYYM、CYGM、RGBW(2×2)、RGBW(具有对角线颜色的2×2)、RGBW(具有成对颜色的2×2)、RGBW(具有垂直W的2×2)和在水平线和垂直线上的6×6RGB、以及它们的组合。

5.如权利要求4所述的尖端上芯片产品，其中：

所述滤色器阵列选自由以下滤色器组成的组：RGBW(2×2)、RGBW(具有对角线颜色的2×2)、RGBW(具有成对颜色的2×2)、RGBW(具有垂直W的2×2)和它们的组合；并且

所述滤色器阵列的W瓦片是NIR滤色器、SWIR滤色器或eSWIR滤色器。

6.如权利要求1所述的尖端上芯片产品，进一步包括第三多个源照射纤维，所述第三多个源照射纤维被配置为输送第三多个未调制光子。

7.如权利要求1所述的尖端上芯片产品，其中所述第一芯片包括硅(Si)、锗(Ge)、砷化镓铟(InGaAs)、硅化铂(PtSi)、碲化镉汞(HgCdTe)、锑化铟(InSb)、胶体量子点(CQD)或它们的组合。

8.如权利要求1所述的尖端上芯片产品，其中所述尖端上芯片产品进一步包括第二相机芯片，并且所述第一相机芯片和所述第二相机芯片被配置为产生立体图像。

9.一种内窥镜系统，所述内窥镜系统包括：

尖端上芯片产品，所述尖端上芯片产品包括：

第一多个源照射纤维，所述第一多个源照射纤维被配置为输送第一多个调制光子；

第二多个源照射纤维，所述第二多个源照射纤维被配置为输送第二多个调制光子；以及

第一相机芯片，所述第一相机芯片被配置为检测光，所述光包括可见光(VIS)、近红外光(NIR)、可见-近红外光(VIS-NIR)、短波红外光(SWIR)、扩展短波红外光(eSWIR)、近红外-扩展短波红外光(NIR-eSWIR)和以上光中的任何一个的组合；

光源；

第一调制器，所述第一调制器至少调制所述第一多个调制光子用于所述第一多个源照射纤维；以及

第二调制器，所述第二调制器至少调制所述第二多个调制光子用于所述第二多个照射源纤维。

10.如权利要求9所述的内窥镜系统，其中所述第一相机芯片被配置为检测可见光(VIS)，并且其中所述尖端上芯片产品进一步包括第二相机芯片，所述第二相机芯片被配置为检测可见光(VIS)。

11.如权利要求9所述的内窥镜系统，其中所述第一相机芯片被配置为检测可见光(VIS)，并且其中所述尖端上芯片产品进一步包括第二相机芯片，所述第二相机芯片被配置为检测近红外光(NIR)。