[发明专利]自动分析装置在审
| 申请号: | 201980004351.0 | 申请日: | 2019-01-23 | 
| 公开(公告)号: | CN112088311A | 公开(公告)日: | 2020-12-15 | 
| 发明(设计)人: | 盐谷圭;赤濑弘树;小西励;坂口昌昭 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 | 
| 主分类号: | G01N35/02 | 分类号: | G01N35/02 | 
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 宋俊寅 | 
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置,包括:
反应容器;
反应盘,该反应盘保持所述反应容器;
试料分注机构,该试料分注机构将试料分注到所述反应容器中;
试剂分注机构,该试剂分注机构将试剂分注到所述反应容器中;
光学系统,该光学系统由对被分注到该反应容器中的试料和试剂的混合液照射光的光源、以及对从该光源照射出的光进行检测的检测器构成;以及
清洗机构,该清洗机构对该反应容器进行清洗,
该自动分析装置基于由该检测器检测到的光来对所述试料进行分析,
所述清洗机构包括:清洗液供给喷嘴,该清洗液供给喷嘴将清洗液提供给该分析后的反应容器;清洗液吸引喷嘴,该清洗液吸引喷嘴对该提供的清洗液进行吸引;带清洗针头的清洗液吸引喷嘴,该带清洗针头的清洗液吸引喷嘴在喷嘴的下端设置有清洗针头;以及粗吸喷嘴,该粗吸喷嘴在用该清洗针头进行吸引前预先对所述反应容器内的液体进行吸引,
在利用所述粗吸喷嘴进行粗吸后,使液体残留以使得所述反应容器的底面不露出。
2.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述带清洗针头的清洗液吸引喷嘴中,清洗针头与容器内壁之间的间隙小于喷嘴与容器内壁之间的间隙。
3.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
利用所述带清洗针头的清洗液吸引喷嘴进行吸引的液体是为了用光来测定反应容器的污垢而喷出至所述反应容器的空白水。
4.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述清洗机构包括:喷嘴夹具,该喷嘴夹具对所述清洗液供给喷嘴、所述清洗液吸引喷嘴、所述带清洗针头的清洗液吸引喷嘴、以及所述粗吸喷嘴进行保持;以及支承轴,该支承轴使这些喷嘴上下移动。
5.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
在所述粗吸喷嘴下降后,所述粗吸喷嘴的前端停止在离开所述反应容器底面的位置。
6.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述粗吸喷嘴的吸引在液面残留的时刻停止以使得所述反应容器的底面不露出。
7.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述粗吸后的液量是在清洗针头下降时液面不上升到清洗针头上表面为止的程度的液量。
8.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
在用所述清洗针头进行吸引时,控制成液体成为一体并能进行吸引的吸引速度。
9.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述清洗针头由至少3个以上不同截面积的长方体构成,清洗针头上部与下部之间的长方体的截面积最小。
10.如权利要求9所述的自动分析装置,其特征在于,
所述上部的长方体的截面积最大,所述下部的长方体的截面积小于上部的长方体的截面积。
11.如权利要求10所述的自动分析装置,其特征在于,
在将清洗针头插入所述反应容器中的状态下,
所述清洗针头的上部位于与测光范围重叠的范围外,该测光范围至少是与所述光源相对的面及与所述检测器相对的面上的从所述光源照射到所述反应容器的光朝向所述检测器并通过所述反应容器的范围。
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