[发明专利]光敏检测装置、显示装置、指纹检测方法和操作显示装置的方法有效
| 申请号: | 201980001712.6 | 申请日: | 2019-09-17 |
| 公开(公告)号: | CN110785768B | 公开(公告)日: | 2023-04-28 |
| 发明(设计)人: | 海晓泉;王海生 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号: | G06V40/13 | 分类号: | G06V40/13;G06V10/12;G06V10/141 |
| 代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 姜春咸;陈源 |
| 地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光敏 检测 装置 显示装置 指纹 方法 操作 | ||
1.一种光敏检测装置,包括对置基板、面对所述对置基板的阵列基板、以及指纹感测驱动器;
其中,所述阵列基板包括:
多个光源,其配置为朝向所述对置基板发光,所述光的至少一部分被所述对置基板的远离所述阵列基板的表面全反射;以及
光传感器,其配置为检测被所述对置基板的远离所述阵列基板的表面全反射的所述光的所述至少一部分;
其中,所述光敏检测装置被配置为在包括多个时序光敏模式的时分模式下操作;并且
所述指纹感测驱动器被配置为通过对在所述多个时序光敏模式下检测到的信号进行整合来检测指纹信息;
在所述多个时序光敏模式中的相应一个模式下,多个发光块被配置为发光;和所述多个发光块具有基本相同的尺寸;
所述基本相同的尺寸是被优化用于实现对比值的最大值的尺寸;其中,所述对比值由定义;其中,Sr表示对应于指纹的脊的信号;以及Sv表示对应于指纹的谷的信号。
2.根据权利要求1所述的光敏检测装置,其中,在所述多个时序光敏模式中的相应一个模式下,间隔开的多个发光块被配置为发光,该光分别被所述对置基板的远离所述阵列基板的表面中的多个触摸子区域反射;
其中,所述多个触摸子区域彼此间隔开。
3.根据权利要求2所述的光敏检测装置,其中,在所述多个时序光敏模式中的相应一个模式下,分别由所述对置基板的远离所述阵列基板的表面中的所述多个触摸子区域反射的光分别由所述光传感器中的多个感测子区域检测到;并且
所述光传感器中的所述多个感测子区域基本上不重叠。
4.根据权利要求3所述的光敏检测装置,其中,所述多个感测子区域中的相邻感测子区域彼此相邻。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的光敏检测装置,其中,所述多个时序光敏模式包括第一模式和第二模式;
间隔开的多个第一发光块被配置在所述第一模式下发光,该光分别被所述对置基板的远离所述阵列基板的表面中的多个第一触摸子区域反射;
间隔开的多个第二发光块被配置为在所述第二模式下发光,该光分别被所述对置基板的远离所述阵列基板的表面中的多个第二触摸子区域反射;
所述多个第一触摸子区域彼此间隔开;并且
所述多个第二触摸子区域彼此间隔开。
6.根据权利要求5所述的光敏检测装置,其中,分别被所述对置基板的远离所述阵列基板的表面中的所述多个第一触摸子区域反射的光分别由所述光传感器的第一感测区域中的多个第一感测子区域检测到;
分别被所述对置基板的远离所述阵列基板的表面中的所述多个第二触摸子区域反射的光分别被所述光传感器的第二感测区域中的多个第二感测子区域检测到;
所述第一感测区域和所述第二感测区域部分重叠;
所述多个第一感测子区域基本上不重叠;并且
所述多个第二感测子区域基本上不重叠。
7.根据权利要求5所述的光敏检测装置,其中,所述多个第一发光块的总数和所述多个第二发光块的总数基本相同。
8.根据权利要求5所述的光敏检测装置,其中,所述多个第一发光块的位置和所述多个第二发光块的位置通过平移位移相关。
9.根据权利要求1所述的光敏检测装置,其中,所述多个发光块中的相应一个发光块包括9个子像素×9个子像素的块。
10.根据权利要求1所述的光敏检测装置,还包括:触摸感测驱动电路,所述触摸感测驱动电路被配置为控制所述光敏检测装置的触摸区域中的触摸检测;
其中,在所述多个时序光敏模式中的相应一个模式下,间隔开的多个发光块被配置为发光;以及
所述多个发光块被限定在与所述触摸区域相对应的区域中。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201980001712.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





