[实用新型]一种挡光码盘测量装置有效

专利信息
申请号: 201922493921.7 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN211178523U 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 方正 申请(专利权)人: 武汉中创融科科技股份有限公司
主分类号: G01D5/36 分类号: G01D5/36;G01B11/02
代理公司: 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 代理人: 赵泽夏
地址: 430000 湖北省武汉市汉阳区*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 挡光码盘 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种挡光码盘测量装置,其特征在于:

所述挡光码盘测量装置包括电机、码盘及采集装置,所述码盘包括本体及挡光板,所述本体上开设有信号开槽,所述挡光板设置于所述信号开槽四周,且所述本体与所述电机的输出轴连接;

所述采集装置为光电传感器或扫描仪,其设置于所述本体边沿,且一侧安装有发光机构,相对另一侧安装有接收机构,所述本体位于所述发光机构与所述接收机构之间;所述电机带动所述本体转动时,所述信号开槽经过所述发光机构与所述接收机构之间。

2.如权利要求1所述的一种挡光码盘测量装置,其特征在于:

所述本体上还开设有挡光槽,所述挡光槽位于所述信号开槽四周,所述挡光板位于所述挡光槽内,且所述挡光板与所述本体转动连接。

3.如权利要求2所述的一种挡光码盘测量装置,其特征在于:

所述挡光槽侧壁上开设有转动孔,所述挡光板上设置有转动轴,所述转动孔与所述转动轴间隙配合,以使所述挡光板与所述本体转动连接。

4.如权利要求3所述的一种挡光码盘测量装置,其特征在于:

所述挡光板收纳于所述挡光槽内时,所述挡光板与所述本体平齐。

5.如权利要求1所述的一种挡光码盘测量装置,其特征在于:

所述挡光板上设置有反光镜,所述反光镜设置于所述挡光板靠近所述信号开槽的一面上。

6.如权利要求1所述的一种挡光码盘测量装置,其特征在于:

所述本体上还开设有中心孔,所述中心孔与所述电机的输出轴过盈配合。

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