[实用新型]一种微控制器中CAN模块的测试电路

说明书

本实用新型揭示了一种微控制器中CAN模块的测试电路，其特征在于：由两个待测的微控制器搭配三个增强型NMOS、一个上拉电阻等少量外围器件相接构成，其中第一微控制器的CAN_TX引脚与NMOS管Q1的栅极相连，第二微控制器的CAN_TX引脚与NMOS管Q3的栅极相连，两个微控制器的CAN_RX引脚与三个NMOS管的共漏极通过上拉电阻R1接入电源，且两个微控制器的旁路通信接口互联。应用实施本实用新型该测试电路，连接简单，在不降低测试覆盖率、可靠性的前提下，大幅简化了MCU中的CAN模块测试过程，优化并实现了低成本、完整测试的目的。

技术领域

本实用新型涉及集成电路的验证领域，尤其涉及微控制器中CAN模块的验证领域。

背景技术

在数字IC设计过程中，功能验证是一个必不可少的环节，这里所说的功能验证既包括仿真阶段的功能验证和芯片测试阶段的功能验证。

在仿真验证阶段，以往的通行做法是设计者自己建立test bench或者直接购买商用VIP。而如果自己建立test bench，那么越是复杂的设计，其test bench的建立过程也越复杂，所以很多时候这个途径不具有现实可操作性。商用VIP一般具有较高的可靠性，但其缺点是价格昂贵，且功能不一定满足验证的需要。

在芯片测试阶段，以往的验证方法是购买CAN测试仪，或者直接把芯片放到各种应用环境中测试，这两种方法都有很大的局限性，无法做到完善的验证。

发明内容

为了克服现有的不足，本实用新型的目的旨在提出一种微控制器中CAN模块的测试电路，使得验证过程变得简单高效。

本实用新型的上述目的，将通过以下技术方案得以实现：一种微控制器中CAN模块的测试电路，其特征在于：由两个待测的微控制器搭配三个增强型NMOS、一个上拉电阻相接构成，其中第一微控制器的CAN_TX引脚与NMOS管Q1的栅极相连，第二微控制器的CAN_TX引脚与NMOS管Q3的栅极相连，两个微控制器的CAN_RX引脚与三个NMOS管的共漏极通过上拉电阻R1接入电源，且两个微控制器的旁路通信接口互联。

本实用新型技术方案应用实施后的显著效果为：连接简单，在不降低测试覆盖率、可靠性的前提下，大幅简化了MCU中的CAN模块测试过程，优化并实现了低成本、完整测试的目的。

附图说明

图1是本实用新型微控制器中CAN模块测试电路的原理框图。

图2是微控制器中CAN模块错误管理功能测试电路的原理框图。

具体实施方式

以下便结合实施例附图，对本实用新型的具体实施方式作进一步的详述，以使本实用新型技术方案更易于理解、掌握。

致力于解决现有技术在微控制器中单独对CAN模块进行测试时购买专用仪器成本过高，或其它直接应用环境测试存在较大局限性的问题。本实用新型设计者总结测试经验，创新提出了一种微控制器中CAN模块全新的测试架构。该电路中包含两个待测的微控制器以及增强型NMOS、电阻等少量外围器件，电路连接结构简单。如图1所示的实施例中，该第一微控制器（左侧的）的CAN_TX引脚与NMOS管Q1的栅极相连，第二微控制器（右侧的）的CAN_TX引脚与NMOS管Q3的栅极相连，两个微控制器的CAN_RX引脚与三个NMOS管的共漏极通过上拉电阻R1接入电源，且两个微控制器的旁路通信接口互联。

并且，该第一微控制器的一个GPIO引脚与NMOS管Q2的栅极相连，用于在测试中强行拉低CAN信号，以便于实施一些CAN错误管理功能的测试。电路中还设有其他通信接口的链接，以便于在必要时实现两个微控制器（即MCU）之间的简单信号交互。