[实用新型]一种用于TKD表征测试的样品夹具

说明书

本实用新型属于微观表征领域，具体涉及一种用于TKD表征测试的样品夹具。包括压块和基台，所述压块和基台的横截面均为直角梯形，压块和基台的长底相接触，压块和基台的锐角端用于夹持；通过凹槽将压块分为夹持部和固定部，凹槽的深度压块的高度，夹持部分为多个，夹持部和固定部均通过紧固螺钉与基台连接。本夹具通过物理固定的方法，将TKD薄试样稳固地固定于夹具体的压块与基台之间，避免因为导电胶的伸缩变形以及导电性能不理想使试样移动和图像漂移。

技术领域

本实用新型属于微观表征领域，具体涉及一种用于TKD表征测试的样品夹具。

背景技术

传统EBSD表征测试时，入射电子与块状样品的作用范围大，产生背散射电子的横向区域宽度通常大于150nm，因此传统EBSD空间分辨率差；而TKD表征测试时，入射电子穿透样品，其横向扩展区域通常小于100nm，从而获得较高空间分辨率。

TKD使用SEM收集透射电镜样品中10nm下的亚表面的透射菊池花样图案，从而分析测量被表征样品的晶粒尺寸、晶粒形貌、相分布和晶体点阵取向等微观信息。相较传统EBSD而言，TKD的空间分辨率被提升至纳米尺度。多种材料的微观结构表征结果表明TKD已能获得2-10nm的分辨率。

目前所采用的测试方法将样品夹持于样品夹台，再将样品夹台固定于一倾斜角为40°～80°的支架。由于导电胶的伸缩变形以及导电性能不理想，在实验过程中会发生图像的漂移，导致结果存在较大误差。另外，一个夹台上只能加持一个样品，测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于TKD表征测试的样品夹具。

实现本实用新型目的的技术解决方案为：一种用于TKD表征测试的样品夹具，包括压块和基台，所述压块和基台的横截面均为直角梯形，压块和基台的长底相接触，压块和基台的锐角端用于夹持；

通过凹槽将所述压块分为夹持部和固定部，所述凹槽的深度压块的高度，所述夹持部分为多个，所述夹持部和固定部均通过紧固螺钉与基台连接。

进一步的，所述基台的基台后端面设有螺纹孔，通过螺纹孔实现与样品台的立柱连接，所述基台后端面为直角梯形的直角边所在的面。

进一步的，所述压块的夹持部的直角梯形的大底边与斜边之间的夹角，即压块夹角α为50°～80°。

进一步的，所述基台的直角梯形的大底边与斜边之间的夹角，即基台夹角β为50°～70°。

进一步的，所述压块的材质为不锈钢、铝合金或铜合金。

进一步的，所述夹持部为四个，多个夹持部之间通过通槽分割。

进一步的，所述压台上设有沉孔与紧固螺钉配合，所述基台上设有螺纹孔为紧固螺钉配合；所述紧固螺钉为两排，一排将压台的夹持部和基台固定，另一排将压台的固定部和基台固定；每一排的紧固螺钉的数量与夹持部的数量相同，每个夹持部配设一个紧固螺钉。

进一步的，所述凹槽的深度为3～8mm，宽为0.5～1mm。

进一步的，所述压块厚度为6-15mm，压块下底面的和长和宽与基台的基台配合面的长和宽相同。

进一步的，所述基台配合面的长度为30～60mm，宽度为20～40mm。

本实用新型与现有技术相比，其显著优点在于：

(1)本夹具通过物理固定的方法，将TKD薄试样稳固地固定于夹具体的压块与基台之间，避免因为导电胶的伸缩变形以及导电性能不理想使试样移动和图像漂移；

(2)压块的长度方向和宽度方向都与夹具的边缘平行，利用压块及样品夹具台阶边缘固定试样，可反复将同一试样固定于同一位置，重复定位效果好；