[实用新型]一种芯片条多通道并发测试双测试台机构有效
| 申请号： | 201922407235.3 | 申请日： | 2019-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN211718453U | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 周建高;周善威 | 申请（专利权）人： | 英诺创新科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙) 44646 | 代理人： | 陈映辉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明新区公明街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 通道 并发 测试 机构 | ||
1.一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，包括安装底板(1)，其特征在于，所述安装底板(1)一侧设有窗口(11)，且安装底板(1)一侧设有侧面盖板(12)，所述安装底板(1)内侧设有平台骨架(13)，所述安装底板(1)顶部的中部固定连接有电性能测试机(14)，所述安装底板(1)内腔设有第一测试台(15)和第二测试台(16)，所述安装底板(1)底部的中部设有升降顶起机构(17)，所述第一测试台(15)顶部设有R轴直驱马达(152)，所述第一测试台(15)一侧底部设有Y轴丝杆(151)，所述第二测试台(16)一端底部设有轴承(161)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，其特征在于，所述电性能测试机(14)底部的中部设有弹簧探针(141)，且弹簧探针(141)与升降顶起机构(17)的顶部相对应。
3.根据权利要求1所述的一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，其特征在于，所述第一测试台(15)和第二测试台(16)的功能和结构相同。
4.根据权利要求1所述的一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，其特征在于，所述安装底板(1)内侧底部设有X轴直驱直线电机(18)，且X轴直驱直线电机(18)共设有两排。
5.根据权利要求1所述的一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，其特征在于，所述轴承(161)为Z轴预压零间隙带衬套线性轴承。
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