[实用新型]一种用于陶瓷基片外观的检测装置

权利要求书

1.一种用于陶瓷基片外观的检测装置，包括外壳(3)，其特征在于：所述外壳(3)的内部设置有照片(9)，所述外壳(3)与照片(9)固定连接，所述外壳(3)的顶部与底部均设置有移动槽(2)，两个所述移动槽(2)之间设置有移动杆(8)，所述移动杆(8)的两端均滑动连接于两个移动槽(2)的内部，所述移动杆(8)的一侧设置有安装板(5)，所述安装板(5)滑动连接于移动杆(8)的内部，所述安装板(5)的内部设置有放大镜(6)，所述安装板(5)与放大镜(6)固定连接，所述安装板(5)靠近移动杆(8)的一侧设置有第一卡块(4)，所述安装板(5)与第一卡块(4)固定连接，所述移动杆(8)的内部对应第一卡块(4)的位置设置有第一卡槽(7)，所述移动杆(8)与第一卡槽(7)固定连接，其中一个所述移动槽(2)的内部设置有多个固定孔(1)，所述移动杆(8)靠近固定孔(1)的一端底部设置有移动块(13)，所述移动块(13)滑动连接于移动槽(2)的内部，所述移动块(13)与移动杆(8)固定连接，所述移动杆(8)的内部设置有拉杆(10)，所述拉杆(10)滑动连接于移动杆(8)的内部，所述拉杆(10)的两侧均设置有第二卡块(12)，两个所述第二卡块(12)均与拉杆(10)固定连接，所述移动块(13)的内部对应第二卡块(12)的位置设置有第二卡槽(11)，所述第二卡槽(11)与移动块(13)固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于陶瓷基片外观的检测装置，其特征在于：两个所述移动槽(2)均与外壳(3)呈一体式设计，所述安装板(5)与放大镜(6)之间通过热熔胶固定。

3.根据权利要求1所述的一种用于陶瓷基片外观的检测装置，其特征在于：所述放大镜(6)的轴截面形状为圆形，所述安装板(5)与第一卡块(4)呈一体式设计。

4.根据权利要求1所述的一种用于陶瓷基片外观的检测装置，其特征在于：所述移动杆(8)与第一卡槽(7)呈一体式设计，所述第一卡块(4)滑动连接于第一卡槽(7)的内部。

5.根据权利要求1所述的一种用于陶瓷基片外观的检测装置，其特征在于：所述移动块(13)与移动杆(8)呈一体式设计，两个所述第二卡块(12)均与拉杆(10)呈一体式设计。

6.根据权利要求1所述的一种用于陶瓷基片外观的检测装置，其特征在于：所述第二卡槽(11)与移动块(13)呈一体式设计，两个所述第二卡块(12)均滑动连接于对应位置的第二卡槽(11)的内部。

7.根据权利要求1所述的一种用于陶瓷基片外观的检测装置，其特征在于：所述第二卡槽(11)的内部设置有弹簧(14)，所述弹簧(14)为弹性最大的状态。

8.根据权利要求7所述的一种用于陶瓷基片外观的检测装置，其特征在于：所述弹簧(14)靠近第二卡块(12)的一端与第二卡块(12)焊接，所述弹簧(14)远离第二卡块(12)的一端与移动杆(8)焊接。