[实用新型]一种碳化硅微粉中大颗粒检测仪有效

专利信息
申请号: 201922400851.6 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN211528142U 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 周强;赵雷;徐金鹤 申请(专利权)人: 山东依莱特硅业有限公司
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 277500 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 碳化硅 微粉中大 颗粒 检测
【说明书】:

实用新型公开了一种碳化硅微粉中大颗粒检测仪,包括支架、电机、研磨仓和电控盘,所述电控盘竖直安装在研磨仓左侧,所述研磨仓顶部装有料浆分流器,所述固定盘对应料浆分流器水平安装在研磨仓内,所述固定盘内装有传动轴,所述传动轴位于固定盘圆心,传动轴与中心齿轮焊接在一起,所述中心齿轮视奏与从动轮啮合,所述从动轮安装在固定盘内部。本实碳化硅微粉中大颗粒检测仪设计方案结构巧妙合理,通过刨金片观察颗粒程度,观察直观,检测成本低;在规定的时间内完成磨削试验后,检测刨金片的划痕,从而判定碳化硅微粉中的大颗粒等异物情况,十分方便,安全可靠,宜推广使用。

技术领域

本实用新型涉及粉体检测设施领域,尤其涉及一种碳化硅微粉中大颗粒检测仪。

背景技术

晶圆片是半导体和光伏领域的主要生产材料,晶圆片多线切磨技术是目前世界上比较先进的晶圆片加工技术,它不同于传统的刀锯片、砂轮片等切磨方式,硅晶圆片多线切磨技术与其他技术相比具有效率高,产能高,精度高等优点。碳化硅微粉作为重要的切磨材料,在晶圆切磨环节对碳化硅微粉的品质提出更高的要求,特别是近几年发展起来的8寸、12寸半导体硅片,对切磨材料要求的更为苛刻,比如在产品颗粒硬度、粒度、酸碱度、球形度等方面。其中最为突出的就是产品中的大颗粒问题,因产品中的任何一颗大颗粒,都会在切磨过程中,对晶圆硅片造成不可修复的划痕,该问题也是国内多数微粉加工企业面临的首要问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种碳化硅微粉中大颗粒检测仪,以解决上述技术问题。

为实现上述目的本实用新型采用以下技术方案:

一种碳化硅微粉中大颗粒检测仪,包括支架、电机、研磨仓和电控盘,还包括料浆分流器、料管支架、尾料池、传动轴、中心齿轮、从动轮、刨金片和固定盘,所述电控盘竖直安装在研磨仓左侧,所述研磨仓顶部装有料浆分流器,所述料浆分流器右侧竖直焊接有料管支架,所述研磨仓内部装有固定盘,所述固定盘对应料浆分流器水平安装在研磨仓内,所述固定盘内装有传动轴,所述传动轴位于固定盘圆心,传动轴与中心齿轮焊接在一起,所述中心齿轮视奏与从动轮啮合,所述从动轮安装在固定盘内部,所述从动轮内部设有刨金片,所述电机水平安装在电控盘和研磨仓底部,所述电机与传动轴相连,所述电机通过螺栓安装在支架顶部,所述支架顶部内面对应固定盘设有排料管,所述排料管底部放置有尾料池。

在上述技术方案基础上,所述电机外侧设有安装电机的保护箱,所述排料管顶部与固定盘联通,放料盘顶部与料浆分流器相连。

在上述技术方案基础上,所述刨金片材料为球状黑铅铸铁,所述固定盘为上下两层设计,固定盘上设有四个给料槽。

与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:本实用新型结构简单,设计合理,造价成本低;在井盖缺失时,防护圈和防护网能在弹簧的作用下弹出,且防护圈和防护网上的警示标识能够警示行人注意危险;即使行人没有注意到警示,由于防护圈与防护网在井口的周围形成一道安全网,能够有效防止行人和车辆掉入井口中,避免了危险的发生,安全可靠,宜推广使用。

附图说明

图1为本实用新型碳化硅微粉中大颗粒检测仪的结构图。

图2为本实用新型碳化硅微粉中大颗粒检测仪的部件结构图。

图3为本实用新型碳化硅微粉中大颗粒检测仪的固定盘结构图。

图中:1、支架,2、电机,3、研磨仓,4、料浆分流器,5、料管支架,6、电控盘,7、排料管,8、尾料池,9、传动轴,10、中心齿轮,11、从动轮,12、刨金片,13、固定盘。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步详细阐述。

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