[实用新型]银浆湿膜测厚设备

说明书

本实用新型公开了银浆湿膜测厚设备，包括THK‑01银浆湿膜测厚仪、底座、控制面板、防护罩和放置座，所述THK‑01银浆湿膜测厚仪的正面设有控制面板，所述THK‑01银浆湿膜测厚仪底部的四个角固定安装有底座，所述THK‑01银浆湿膜测厚仪的顶部固定安装有放置座，所述THK‑01银浆湿膜测厚仪的顶部罩有防护罩。本实用新型设置了防护罩，防护罩可以对气流进行遮挡，避免外部气流影响到银浆湿膜，保证THK‑01银浆湿膜测厚仪的检测精确性，该银浆湿膜测厚设备设置了螺杆和螺纹管，通过转动螺杆，从而可以调节放置座的高度，满足银浆湿膜的放置高度，满足测量需要。

技术领域

本实用新型涉及银浆湿膜测厚技术领域，具体为银浆湿膜测厚设备。

背景技术

随着社会的发展，银浆湿膜的应用范围也越来越广，一般在电池、硅片等领域，为了产生出适应不同产品的银浆湿膜，需要使用到银浆湿膜测厚设备对其厚度进行精确的测量。

现有的银浆湿膜测厚设备存在的缺陷是：

1、现有的银浆湿膜测厚设备在使用的时候常常会因为受到外界的微弱震动导致测量数值出现偏差；

2、现有的银浆湿膜测厚设备在使用的时候，外部气流导致银浆湿膜出现波动，影响银浆湿膜测厚设备的测量精确性；

3、现有的银浆湿膜测厚设备无法根据使用需要对银浆湿膜的放置高度进行调节。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供银浆湿膜测厚设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：银浆湿膜测厚设备，包括THK-01银浆湿膜测厚仪、底座、控制面板、防护罩和放置座，所述THK-01银浆湿膜测厚仪的正面设有控制面板，所述THK-01银浆湿膜测厚仪底部的四个角固定安装有底座，所述THK-01银浆湿膜测厚仪的顶部固定安装有放置座，所述THK-01银浆湿膜测厚仪的顶部罩有防护罩。

优选的，所述放置座的顶部设有凹槽，所述放置座底部的中央位置处固定安装有螺杆，螺杆的外侧固定安装有螺纹管。

优选的，所述底座的底部黏贴有橡胶垫，橡胶垫的底部黏贴有防滑垫。

优选的，所述防护罩顶部的中央位置处固定安装有把手，把手的手持处套有防滑套。

优选的，所述THK-01银浆湿膜测厚仪的两侧设有散热口，所述THK-01银浆湿膜测厚仪顶部后侧的中央位置处设有顶柱，顶柱前端的底部设有测头，所述THK-01银浆湿膜测厚仪的后侧通过导线固定安装有插头。

优选的，所述控制面板正面的一侧设有开关，所述控制面板正面的中央位置处设有控制键盘，所述控制面板正面的另一侧设有显示屏。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、该银浆湿膜测厚设备设置了底座，底座底部的橡胶垫可以起到减震的作用，避免震动传递到THK-01银浆湿膜测厚仪，影响THK-01银浆湿膜测厚仪的测量精度；

2、该银浆湿膜测厚设备设置了防护罩，防护罩可以对气流进行遮挡，避免外部气流影响到银浆湿膜，保证THK-01银浆湿膜测厚仪的检测精确性；

3、该银浆湿膜测厚设备设置了螺杆和螺纹管，通过转动螺杆，从而可以调节放置座的高度，满足银浆湿膜的放置高度，满足测量需要。

附图说明

图1为本实用新型的正视示意图；

图2为本实用新型的侧视示意图；

图3为本实用新型的放置座结构示意图；

图4为本实用新型的底座结构示意图。