[实用新型]芯块外观缺陷自动检测系统的上下料机构有效

专利信息
申请号: 201922349201.3 申请日: 2019-12-24
公开(公告)号: CN212607293U 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 谢强;俞迪;谭耘;任庆伟;熊德明;李强;肖帅;陈绍义;王亚鹏;蔡文超;叶齐;马海涛;冯卫兵;皮晓涛 申请(专利权)人: 中核建中核燃料元件有限公司
主分类号: B65G1/04 分类号: B65G1/04
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高安娜
地址: 644000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 外观 缺陷 自动检测 系统 上下 机构
【权利要求书】:

1.芯块外观缺陷自动检测系统的上下料机构,其特征在于:它包括芯块柜对齐和夹紧机构、料盘扫描机构、料盘升降机构以及取料和放料货叉机构。

2.如权利要求1所述的芯块外观缺陷自动检测系统的上下料机构,其特征在于:它还包括芯块柜(1),芯块柜(1)中放有一系列的料盘(2),芯块柜(1)被推入指定位置,夹紧气缸(6)将芯块柜(1)夹紧于指定位置。

3.如权利要求2所述的芯块外观缺陷自动检测系统的上下料机构,其特征在于:当芯块柜(1)被夹紧之后,料盘升降机构(4)带动料盘扫描机构逐一对料盘位置扫描,遇到合适的位置。

4.如权利要求2所述的芯块外观缺陷自动检测系统的上下料机构,其特征在于:所述的芯块柜对齐和夹紧机构将芯块柜(1)推入本机构的底板(7)中,就位时将有安装有到位传感器的档块(8)阻挡芯块柜(1)继续过于向前,当到位传感器收到芯块柜(1)就位信号时,位于芯块柜(1)两侧和后方的夹紧气缸(6)将会动作,夹紧芯块柜(1),使其位置固定。

5.如权利要求2所述的芯块外观缺陷自动检测系统的上下料机构,其特征在于:所述的料盘扫描机构能够确定料盘(2)在芯块柜(1)中的位置,或确认空位的位置,供料盘(2)放入。

6.如权利要求2所述的芯块外观缺陷自动检测系统的上下料机构,其特征在于:所述的料盘升降机构(4)上安装有一个位置传感器(5),以及取料和放料货叉(3)。

7.如权利要求6所述的芯块外观缺陷自动检测系统的上下料机构,其特征在于:所述的位置传感器(5)的形式包含但不限于激光传感器,相机等形式。

8.如权利要求7所述的芯块外观缺陷自动检测系统的上下料机构,其特征在于:所述的料盘升降机构(4)从上至下或从下至上扫描芯块柜(1)中的区域,位置传感器(5)将会根据料盘托架(9)的位置,确定料盘存放的位置,位置传感器(5)同时根据料盘(2)反射回来的信号确定该位置料盘托架(9) 上,是否有料盘(2)。

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