[实用新型]一种纳米晶检查用等速走料带设备

权利要求书

1.一种纳米晶检查用等速走料带设备，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的顶部左侧固定连接有第一安装板(8)，所述工作台(1)的顶部右侧固定连接有第二安装板(9)，所述工作台(1)的底部两侧固定连接有支撑腿(2)，所述支撑腿(2)的底部固定连接有脚垫(3)，所述工作台(1)的底部中间固定连接有调速箱(4)，所述调速箱(4)的正面固定连接有控制面板(5)，所述工作台(1)的底部左侧固定连接有第一电机箱(6)，所述第一电机箱(6)的内壁固定连接有第一电机(10)，所述第一电机(10)的输出轴顶部固定连接有放料轴(12)，所述放料轴(12)的外壁固定连接有第一花键(13)，所述放料轴(12)活动连接在放料筒(14)的内部，所述放料筒(14)的外壁活动连接有料带(20)，所述放料轴(12)的顶部活动连接有第一安装帽(15)，所述工作台(1)的底部右侧固定连接有第二电机箱(7)，所述第二电机箱(7)的内壁固定连接有第二电机(11)，所述第二电机(11)的输出轴顶部固定连接有收料轴(16)，所述收料轴(16)的外壁固定连接有第二花键(17)，所述收料轴(16)活动连接在收料筒(18)的内部，所述收料轴(16)的顶部活动连接有第二安装帽(19)。

2.根据权利要求1所述的一种纳米晶检查用等速走料带设备，其特征在于：所述脚垫(3)是复合橡胶材质。

3.根据权利要求1所述的一种纳米晶检查用等速走料带设备，其特征在于：所述调速箱(4)的输出端与第一电机(10)和第二电机(11)的输入端电连接。

4.根据权利要求1所述的一种纳米晶检查用等速走料带设备，其特征在于：所述放料筒(14)和收料筒(18)的内壁分别开设有与第一花键(13)和第二花键(17)相匹配的花槽。

5.根据权利要求1所述的一种纳米晶检查用等速走料带设备，其特征在于：所述放料筒(14)和收料筒(18)分别与第一安装帽(15)和第二安装帽(19)螺纹连接。

6.根据权利要求1所述的一种纳米晶检查用等速走料带设备，其特征在于：所述料带(20)的左端卷绕在放料筒(14)上，料带(20)的右端粘连在收料筒(18)上。

7.根据权利要求1所述的一种纳米晶检查用等速走料带设备，其特征在于：所述第一电机(10)与第二电机(11)的运动方向相同。