[实用新型]一种光学薄膜加工用的厚度检测装置

说明书

本实用新型涉及薄膜加工技术领域，且公开了一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，包括装置台体，所述装置台体的一侧设置有侧板，且侧板靠近装置台体的一侧滑动连接有活动块，所述装置台体的表面开设有与活动块相匹配的凹槽，所述装置台体远离侧板的一侧设置有支撑座，且支撑座的上表面通过多个第一连接杆固定连接有倾斜板体，且倾斜板体的下端与装置台体的上端侧壁固定连接，该种光学薄膜加工用的厚度检测装置，通过引入具有较小倾斜角度的倾斜板体，使得薄膜的厚度放大为活动块距离凹槽的高度以及滑块沿倾斜板体滑动距离等较大的数值进行计算，由此实现较大刻度测量装置对厚度较小的薄膜的计算。

技术领域

本实用新型涉及薄膜加工技术领域，具体为一种光学薄膜加工用的厚度检测装置。

背景技术

光学薄膜，是由薄的分层介质构成的，通过界面传播光束的一类光学介质材料。

由于光学薄膜的厚度较薄，一般操作人员需要通过较为精密的专业测量仪器进行测量，但当这些测量仪器出现损坏且又需要进行薄膜尺寸的测量时，由于普通的长度计量仪器的刻度相对薄膜尺寸来说较大，因此操作人员难以仅通过普通的长度计量仪器对光学薄膜的厚度进行测量，为此，我们提出一种光学薄膜加工用的厚度检测装置解决上述问题。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，具备通过引入具有较小倾斜角度的倾斜板体，使得薄膜的厚度放大为活动块距离凹槽的高度以及滑块沿倾斜板体滑动距离等较大的数值进行计算，由此实现较大刻度测量装置对厚度较小的薄膜的计算等优点，解决了背景技术提出的问题。

(二)技术方案

为实现上述通过引入具有较小倾斜角度的倾斜板体，使得薄膜的厚度放大为活动块距离凹槽的高度以及滑块沿倾斜板体滑动距离等较大的数值进行计算，由此实现较大刻度测量装置对厚度较小的薄膜的计算的目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种光学薄膜加工用的厚度检测装置，包括装置台体，所述装置台体的一侧设置有侧板，且侧板靠近装置台体的一侧滑动连接有活动块，所述装置台体的表面开设有与活动块相匹配的凹槽，所述装置台体远离侧板的一侧设置有支撑座，且支撑座的上表面通过多个第一连接杆固定连接有倾斜板体，且倾斜板体的下端与装置台体的上端侧壁固定连接，所述倾斜板体的上表面滑动连接有滑块，且滑块与活动块之间固定连接有水平设置的伸缩杆。

优选的，所述侧板的表面开设有条形槽，且活动块靠近侧板的一侧固定连接有凸杆，所述凸杆插设于条形槽内设置，且侧板远离活动块的一侧设置有与凸杆相连接的旋钮。

优选的，所述旋钮靠近凸杆的一侧固定设置有紧固螺栓，且紧固螺栓的端部与凸杆的端壁螺纹连接。

优选的，所述凹槽的表面开设有多个通孔，且通孔的下端延伸至装置台体的下表面设置。

优选的，所述装置台体和支撑座的下方均设置有四个支脚，且四个支脚呈矩形阵列分布。

优选的，所述倾斜板体的表面开设有滑槽，所述滑块的下端固定连接有第二连接杆，且第二连接杆的杆体贯穿滑槽设置，所述第二连接杆远离滑块的一端通过螺栓固定连接有下板体。

(三)有益效果

与现有技术对比，本实用新型具备以下有益效果：

1、该种光学薄膜加工用的厚度检测装置，通过引入具有较小倾斜角度的倾斜板体，使得薄膜的厚度放大为活动块距离凹槽的高度以及滑块沿倾斜板体滑动距离等较大的数值进行计算，由此实现较大刻度测量装置对厚度较小的薄膜的计算，避免了普通的长度计量仪器的刻度相对薄膜尺寸来说较大，因此操作人员难以仅通过普通的长度计量仪器对光学薄膜的厚度进行测量的情况。