[实用新型]一种全自动测Die分选机

说明书

本实用新型公开了一种全自动测Die分选机，包括支撑柱、工作台、限位挡板、升降机构和集料盘，所述工作台底端的两侧皆固定有支撑柱，且相邻支撑柱之间固定有固定板，并且固定板顶端的一侧固定有转座，所述转座一侧的工作台底端固定有步进电机，所述工作台顶端的一侧固定有测试台，且测试台一侧的工作台内部固定有出料斗，并且测试台的上方设置有高速图像采集相机，所述测试台一侧的工作台顶端固定有固定架，所述固定架一侧的外壁上设置有升降机构。本实用新型不仅提高了Die收集时的便捷性与准确性，提高了Die测试时高度调节的便捷性，而且减少了Die出现堆积入料的情况且减少了Die落料时冲击造成的损坏。

技术领域

本实用新型涉及半导体器件测试技术领域，具体为一种全自动测Die分选机。

背景技术

Die(晶粒的英语)在半导体行业指的是没有经过封装的集成电路芯片，即为裸芯片、晶片等，为保障Die的正常使用，就需对Die进行功能测试，把坏的Die挑选出来，传统的Die测试需要依赖人力，测试效率不高，因此需要使用到全自动测Die分选机来提高Die的分选效率。

现今市场上的此类全自动测Die分选机种类繁多，基本可以满足人们的使用需求，但是依然存在一定的不足之处，具体问题有以下几点。

(1)现有的此类全自动测Die分选机在使用时通常需要人工将分选出的合格与不合格的Die收集，收集效率较低且容易出现失误；

(2)现有的此类全自动测Die分选机在使用时通常不便与根据Die的型号来调节测试的高度，因此难以给Die提供一个最佳的测试效果；

(3)现有的此类全自动测Die分选机在使用时从传动带上落下的Die容易出现拥堵堆积的情况，并且导入的Die由于冲击力容易产生损坏，从而存在改进的空间。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种全自动测Die分选机，以解决上述背景技术中提出全自动测Die分选机在使用时集料不便，难以调节测试的高度和Die容易堆积入料的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种全自动测Die分选机，包括支撑柱、工作台、限位挡板、升降机构和集料盘，所述工作台底端的两侧皆固定有支撑柱，且相邻支撑柱之间固定有固定板，并且固定板顶端的一侧固定有转座，所述转座一侧的工作台底端固定有步进电机，步进电机的输出端通过联轴器固定有第一转轴，并且第一转轴通过皮带轮与转座相连接，所述工作台顶端的一侧固定有测试台，且测试台一侧的工作台内部固定有出料斗，并且测试台的上方设置有高速图像采集相机，所述测试台一侧的工作台顶端固定有固定架，且固定架的顶端固定有驱动电机，并且驱动电机的输出端通过联轴器固定有第二转轴，所述固定架一侧的外壁上设置有升降机构，所述固定架远离测试台一侧的工作台顶端固定有控制面板，且控制面板内部单片机的输出端分别与步进电机和驱动电机的输入端电性连接。

优选的，所述转座的顶端固定有转盘，且转盘的顶端设置有集料盘，并且集料盘的内部固定有分料隔板，用于Die的区分收集工作。

优选的，所述工作台顶端的一侧固定有支撑架，支撑架的一端固定有导料斜板，且导料斜板顶端的两侧皆固定有限位挡板，并且导料斜板一侧的测试台顶端固定有橡胶缓冲垫，用于减少Die的堆积且减少Die的损坏。

优选的，所述测试台一侧的工作台顶端固定有伸缩杆，且伸缩杆的输出端固定有推料板，并且推料板一侧的外壁上固定有海绵块，用于推送Die完成出料工作。

优选的，所述升降机构的内部依次设置有螺纹杆、滑座、连接臂、限位杆和条形滑槽，固定架的一侧设置有螺纹杆，螺纹杆的顶端与第二转轴的底端固定连接，且螺纹杆的外壁上螺纹连接有滑座，用于高速图像采集相机的驱动工作。