[实用新型]一种S参数测试用快插连接头有效

专利信息
申请号: 201922317683.4 申请日: 2019-12-22
公开(公告)号: CN211238699U 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 龙庆;龚尚旺;邹斌 申请(专利权)人: 东莞东山精密制造有限公司
主分类号: H01R13/629 分类号: H01R13/629
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 523000 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 参数 测试 用快插连 接头
【说明书】:

实用新型公开了一种S参数测试用快插连接头,包括外壳、连接块、套管和螺丝,所述外壳一端开口,外壳一端内部固定有插头,所述外壳另一端固定有连接线,所述连接块一侧中间开设有圆槽,所述连接块另一侧中间开设有线孔,所述连接块另一侧与套管一端固定连接,所述连接线从连接块和套管中穿过,连接块一侧与外壳贴合,所述螺丝穿过连接块拧进外壳内,所述连接块外侧呈环形阵列开设有四个第二螺孔,外壳另一端外侧呈环形阵列开设有四个第一螺孔,螺丝穿过第二螺孔拧进第一螺孔内,螺丝分别与第二螺孔和第一螺孔相匹配。本实用新型具有采用直插式快插的连接方式,提升效率的同时也减少摩擦造成的损伤,提高S参数连接头使用寿命的优点。

技术领域

本实用新型涉及S参数测试技术领域,具体为一种S参数测试用快插连接头。

背景技术

S参数也叫散射参数,是微波传输中的一个重要参数。S参数描述了传输通道的频域特性,在进行串行链路SI分析的时候,获得通道的准确S参数是一个很重要的环节,通过S参数,我们能看到传输通道的几乎全部特性。

目前S参数测试使用的连接头为螺纹紧固,该接头有连接时间长、磨损大、使用寿命短的缺陷,长时间使用对S参数的测试指标造成误判的比例增高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种S参数测试用快插连接头,具备采用直插式快插的连接方式,提升效率的同时也减少摩擦造成的损伤,提高S参数连接头使用寿命的优点,解决了螺纹紧固的连接头连接时间长、磨损大、使用寿命短,长时间使用对S参数的测试指标造成误判的比例增高的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种S参数测试用快插连接头,包括外壳、连接块、套管和螺丝,所述外壳一端开口,外壳一端内部固定有插头,所述外壳另一端固定有连接线,所述连接块一侧中间开设有圆槽,所述连接块另一侧中间开设有线孔,所述连接块另一侧与套管一端固定连接,所述连接线从连接块和套管中穿过,连接块一侧与外壳贴合,所述螺丝穿过连接块拧进外壳内,连接块与外壳固定。

优选的,所述连接线的一端穿过外壳与插头电连接。

优选的,所述圆槽与线孔连通。

优选的,所述线孔与套管空腔连通,线孔的直径与套管空腔的直径相一致。

优选的,所述连接块外侧呈环形阵列开设有四个第二螺孔,外壳另一端外侧呈环形阵列开设有四个第一螺孔,第一螺孔与第二螺孔对齐,螺丝穿过第二螺孔拧进第一螺孔内,螺丝分别与第二螺孔和第一螺孔相匹配。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:

1、本实用新型通过设置外壳,达到了取代螺纹连接,提升效率的效果,本实用新型设置有外壳,插头固定在外壳内部,外壳内壁光滑,外壳内壁与插头之间留有空隙,将插头对准外部待测设备的接头,工作人员直接将插头插进外部设备的接头内,相比于原来的螺纹连接,提升S参数与被测产品的连接速度,从而提升生产效率,减少插头与被测产品的摩擦,保护被测产品接头的外观结构,延长插头的使用寿命。

2、本实用新型通过设置连接块和套管,达到了便于插入和拔出插头的效果,本实用新型设置有连接块和套管,连接块一侧开设有圆槽,连接块另一侧开设有线孔,线孔与圆槽连通。连接块另一侧固定有套管,线孔与套管空腔连通。将连接线从连接块和套管中穿过,连接块一侧与外壳贴合,第一螺孔与第二螺孔对齐,将螺丝穿过第二螺孔拧进第一螺孔内,螺丝使外壳和连接块固定,套管将插头处的连接线套住,工作人员插入和拔出插头时,手抓住套管,避免拖拽连接线,使用方便。

附图说明

图1为本实用新型的主视结构示意图;

图2为本实用新型的左视结构示意图;

图3为本实用新型的正面剖视结构示意图;

图4为本实用新型的外壳正面剖视连接结构示意图;

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