[实用新型]一种S参数的单端口差分测试设备

说明书

本实用新型公开了一种S参数的单端口差分测试设备，其中，S参数的单端口差分测试设备，包括单端口测试仪器；所述单端口测试仪器包括一对信号端口，所述一对信号端口分别连接有阻抗匹配器，每个阻抗匹配器的输出端连接有用于连接差分器件的测试端口组；所述测试端口组连接有可切换的补偿电路。本实用新型利用阻抗匹配器实现低成本的单端口差分测试，同时引入补偿电路补偿误差，使得S参数的测试可以实现大批量化生产。

技术领域

本实用新型属于差分电路特性的测量领域，具体涉及一种S参数的单端口差分测试设备。

背景技术

差分电路结构因其具有很好的增益、二阶线性度、突出的抗杂散应变以及抗噪声性能而越来越多地被人们采用。要通过直接测量的方式来表征平衡电路特性的话，通常需要使用昂贵的四端口矢量网络分析仪。

在IEEE Microwave Magazine中公开了名称为“用二端口S参数来表征差分电路的特性”的文章，里面提供了一种巴伦结构，能够实现平衡结构到不平衡结构的转换功能，射频工程师通过使用单端口矢量网络分析仪来配合巴伦结构，从而实现对差分电路特性的测量。

但是，巴伦结构的单端口分析仪器，其巴伦结构成本仍然较高，而且误差更大，很难适用于工厂或车间的批量化生产需求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：针对现有技术中采用巴伦结构的单端口矢量网络分析仪存在成本较高、误差更大的问题，提供另外一种结构的单端口矢量网络分析仪，具体地，为一种S参数的单端口差分测试设备，采用电阻组成的阻抗匹配器，以不平衡射频端口完成对差分信号的S参数的测试；同时，设置有补偿电路，校准时引入正向补偿，从而补偿在测量时的误差。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种S参数的单端口差分测试设备，包括单端口测试仪器；

所述单端口测试仪器包括一对信号端口，所述一对信号端口分别连接有阻抗匹配器，每个阻抗匹配器的输出端连接有用于连接差分器件的测试端口组；

所述测试端口组连接有可切换的补偿电路。

可选地，所述补偿电路为LC补偿电路。

可选地，所述测试端口组包括直通测试端口组，一对所述直通测试端口组的正极之间连接、负极之间分别连接电感器件，每个所述直通测试端口组的正负极之间连接电容器件。

可选地，所述补偿电路为电容器件。

可选地，所述测试端口组包括负载测试端口组，每个负载测试端口组的正负极之间连接负载电阻和所述电容器件。

可选地，所述测试端口组包括直通测试端口组，一对所述直通测试端口组的正极之间连接、负极之间分别连通，每个所述直通测试端口组的正负极之间连接所述电容器件。

可选地，所述阻抗匹配器为50Ω：100Ω。

可选地，所述阻抗匹配器包括第一电阻和第二电阻，所述第一电阻并联在连接信号端口的信号线与接电线之间，第二电阻的信号线串联在信号线上。

由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：

本实用新型的S参数的单端口差分测试设备，采用单端口测试仪器(即单端口矢量网络分析仪)，在信号端口配置阻抗匹配器，使得单端口的不平衡仍然适用于对待测器件的差分测试，阻抗匹配器采用成本较低的电阻构成，相较于现有技术的巴伦结构，成本更低，而电阻的频率特性很容易达到1000MHz，从而更适合目前流行的5G/10G网络器件的测量，同时成本低也更加容易实现批量化测试；

同时，本实用新型在校准时引入了补偿电路，从而能够在测试前，先进行校准，校准时引入一定的损耗，校准完成，测量产品时再移除此补偿电路，使得产品测试结果得到正向补偿，从而消除测量误差。