[实用新型]一种适用于条状芯片测试的吸盘

说明书

本实用新型公开了一种适用于条状芯片测试的吸盘，包括吸盘壳体，所述吸盘壳体内沿水平方向开设有多个呈圆形的锥形腔，所述吸盘壳体上端沿锥形腔轴心等间距开设有多个吸气孔，所述吸盘壳体侧壁开设与锥形腔内顶部连通的抽气腔，所述吸盘壳体相对侧壁开设滑槽，所述滑槽上安装有对条形芯片进行压紧的压紧装置。本实用新型案例通过设置螺纹杆、横板和夹板，可以对吸盘壳体上端的条状芯片进行夹紧，避免在对条状芯片进行突然性的松开过程中，使得条状芯片被弹开受到碰撞，影响其使用性能，通过设置防滑凸起和橡胶垫，使得条状芯片在吸盘壳体上端的放置更加稳定，增加对其的测试准确度。

技术领域

本实用新型涉及条状芯片技术领域，尤其涉及一种适用于条状芯片测试的吸盘。

背景技术

芯片在电子学中是一种把电路小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，芯片在生产过程需要对其承受压力进行测试，在对芯片进行测试时，需要首先对芯片的位置进行固定，经常是通过吸盘对芯片进行吸附来完成此操作。

目前对条状芯片测试时，首先都是讲条状芯片放置在吸盘上，然后通过吸盘对条状芯片位置进行固定，再进行测试，但是对条状芯片测试后，在实际生产过程中，为了保证生产效率，通过吸盘对条状芯片的松开都是突然性的，由于条状芯片上并未设置对条状芯片的防护措施，使得条状芯片在气体的反作用力下回弹起，使得条状芯片受到碰撞，影响条状芯片的使用性能。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种适用于条状芯片测试的吸盘。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种适用于条状芯片测试的吸盘，包括吸盘壳体，所述吸盘壳体内沿水平方向开设有多个呈圆形的锥形腔，所述吸盘壳体上端沿锥形腔轴心等间距开设有多个吸气孔，所述吸盘壳体侧壁开设与锥形腔内顶部连通的抽气腔，所述吸盘壳体相对侧壁开设滑槽，所述滑槽上安装有对条形芯片进行压紧的压紧装置。

优选地，所述压紧装置包括下端滑动连接在滑槽内的U型架，所述U型架上端螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆下端贯穿U型架上端并转动连接有横板，所述横板下端开设有凹槽，所述凹槽内顶部通过多个弹簧弹性连接有与凹槽配合的夹板。

优选地，所述螺纹杆上端固定连接有把手，所述把手上套设有橡胶防滑套。

优选地，所述夹板下端固定连接有多个防滑凸起，多个所述防滑凸起采用质软材料制成。

优选地，所述吸盘壳体上端胶合有橡胶垫，所述橡胶垫上设有防滑纹。

优选地，多个所述锥形腔的数量为4-8个。

本实用新型具有以下有益效果：

1、通过设置螺纹杆、横板和夹板，可以对吸盘壳体上端的条状芯片进行夹紧，避免在对条状芯片进行突然性的松开过程中，使得条状芯片被弹开受到碰撞，影响其使用性能；

2、通过在吸盘壳体上端设置多个吸气孔，使得对条状芯片进行吸附时，可以对芯片进行全面的吸附，并且吸附强度大；

3、通过设置防滑凸起和表面设有防滑纹的橡胶垫，使得条状芯片在吸盘壳体上端的放置更加稳定，增加对其的测试准确度；

4、通过设置夹板上端的弹簧，可以对条状芯片进行夹紧时对其进行缓冲，避免条状芯片被夹坏，造成条状芯片的浪费。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种适用于条状芯片测试的吸盘的结构示意图；

图2为图1中A处的结构放大示意图；

图3为本实用新型提出的一种适用于条状芯片测试的吸盘的俯视结构示意图。