[实用新型]一种I2C测试治具有效
申请号: | 201922262356.3 | 申请日: | 2019-12-17 |
公开(公告)号: | CN211627710U | 公开(公告)日: | 2020-10-02 |
发明(设计)人: | 官志祥 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/04 |
代理公司: | 济南诚智商标专利事务所有限公司 37105 | 代理人: | 李修杰 |
地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 i2c 测试 | ||
1.一种I2C测试治具,其特征是,包括EEPROM、金手指、第一连接点以及第二连接点,所述I2C测试治具通过金手指一端与印刷电路板连接,所述金手指另一端与EEPROM的I2C接口一端连接,所述EEPROM的I2C接口另一端通过第一连接点以及第二连接点与测试模块连接。
2.根据权利要求1所述的I2C测试治具,其特征是,所述测试模块包括第一探棒以及第二探棒,所述第一探棒与第一连接点连接,所述第二探棒与第二连接点连接。
3.根据权利要求2所述的I2C测试治具,其特征是,所述第一连接点包括第一SDA引脚以及第一GND引脚,所述第一SDA引脚一路与EEPROM的第二SDA引脚连接,另一路与第一探棒连接,所述第一GND引脚一路与EEPROM的第二GND引脚连接,另一路与第一探棒连接。
4.根据权利要求2所述的I2C测试治具,其特征是,所述第二连接点包括第一SCL引脚以及第三GND引脚,所述第一SCL引脚一路与EEPROM的第二SCL引脚连接,另一路与第二探棒连接,所述第三GND引脚一路与EEPROM的第二GND引脚连接,另一路与第二探棒连接。
5.根据权利要求2所述的I2C测试治具,其特征是,所述金手指包括第一top金手指以及第二bottom金手指,所述第一top金手指与电源连接,所述第二bottom金手指与EEPROM连接。
6.根据权利要求5所述的I2C测试治具,其特征是,所述第一top金手指包括第一VEER引脚、第二VEER引脚、VCCR引脚、VCCT引脚、第一VEET引脚、第二VEET引脚,所述第一VEER引脚接地;所述第二VEER引脚一路连接电容C1一端,一路连接电容C2一端,一路接地,另一路通过电容C3一端连接,电容C3另一端与电源连接;所述VCCR引脚一路连接电容C1另一端,一路连接电容C2另一端,另一路连接电感L1的一端,电感L1的另一端一路与电容C3另一端连接,另一路与电源连接;所述VCCT引脚一路连接电容C4另一端,一路连接电容C5另一端,另一路连接电感L2的一端,电感L2的另一端一路与电容C6另一端连接,另一路与电源连接;所述第一VEET引脚一路连接电容C3一端,一路连接电容C4一端,一路接地,另一路通过电容C5一端连接,电容C6另一端与电源连接;所述第二VEET引脚接地。
7.根据权利要求5所述的I2C测试治具,其特征是,所述第二bottom金手指包括第三VEER引脚、第三VEET引脚、第三SDA引脚、第三SCL引脚,所述第三VEER引脚、第三VEET引脚均接地,所述第三SDA引脚与EEPROM的第二SDA引脚、第三SCL引脚与EEPROM的第二SCL引脚连接。
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