[实用新型]一种红外探伤仪便携式保护装置

说明书

本实用新型公开了一种红外探伤仪便携式保护装置，涉及探伤仪技术领域，包括保护盒和保护盖，所述保护盖位于保护盒的上方，所述保护盒内底面固定设置有电动推杆，电动推杆顶部固定设置有支撑板，支撑板顶面四侧分别固定竖向设置有挡板，所述支撑板底面中部防止有探伤仪，所述探伤仪上连接有电线，电线远离探伤仪的一端电连接探测头，所述保护盖顶部贯穿设置有穿线孔，所述保护盖顶面中部开设有出口，所述支撑板能穿过出口，所述保护盖顶部设置有固定轴，固定轴上转动设置有转板，转板一侧固定连接有旋转挡板。本实用新型解决了一般的多晶硅红外探伤测试仪在进行检测时多裸露在外环境，容易损坏，得不到保护，使用寿命得不到保障的问题。

技术领域

本实用新型属于探伤仪技术领域，具体涉及一种红外探伤仪便携式保护装置。

背景技术

红外探伤测试仪是专门用于多晶硅片生产中的硅块硅棒硅片的裂缝、杂质、黑点、阴影、微晶等缺陷探伤的仪器。多晶硅红外探伤测试仪主要由红外光源，旋转台，成像系统构成。成像系统的参数设置包括光照亮度，对比度，伽马射线和一体化的时间设置，获取模式选择和损坏像素管理。旋转台由单轴伺服电机驱动，同时拥有光电编码器的位置检查的功能。软件也可以直接控制伺服电机。

一般的多晶硅红外探伤测试仪在进行检测时多裸露在外环境，容易损坏，得不到保护，使用寿命得不到保障，因此本实用新型设计了一种红外探伤仪便携式保护装置，以解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种红外探伤仪便携式保护装置，以解决上述背景技术中提出的一般的多晶硅红外探伤测试仪在进行裸露在外环境，容易损坏，得不到保护，使用寿命得不到保障的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种红外探伤仪便携式保护装置，包括保护盒和保护盖，所述保护盖位于保护盒的上方，所述保护盒与保护盖螺纹配合，所述保护盒内底面固定设置有电动推杆，电动推杆顶部固定设置有支撑板，支撑板顶面四侧分别固定竖向设置有挡板，所述支撑板底面中部防止有探伤仪，探伤仪位于四个挡板围成的空间内；

所述探伤仪上连接有电线，电线远离探伤仪的一端电连接探测头，所述保护盖顶部贯穿设置有穿线孔，所述电线穿过穿线孔并延伸至外部，所述探测头位于保护盖外部，所述保护盖顶面中部开设有出口，所述支撑板能穿过出口，所述保护盖顶部设置有固定轴，固定轴上转动设置有转板，转板远离固定轴的一侧固定连接有旋转挡板，旋转挡板与出口相适配。

优选的，所述穿线孔设置有两个。

优选的，所述旋转挡板横截面呈圆形。

优选的，所述穿线孔底部两侧分别固定设置有限位块，两个限位块间的间距为2cm，所述电线的内径为1cm，所述探测头的直径大于2cm。

优选的，所述旋转挡板表面涂油防锈漆。

优选的，所述旋转挡板底部固定设置有环形圈，环形圈采用橡胶材质制成。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种红外探伤仪便携式保护装置，具备以下有益效果：

1、本实用新型通过设置有旋转挡板和电动推杆等结构，转动旋转挡板打开出口，启动电动推杆伸长带动探伤仪向上移动，探测头对待测体进行检测，人们通过出口观察探伤仪的显示数据，当检测结束后，启动电动推杆收缩，转动旋转挡板挡住出口，解决了一般的多晶硅红外探伤测试仪在进行检测时多裸露在外环境，容易损坏，得不到保护的问题。

2、本实用新型通过设置有限位块，防止探测头从穿线孔滑落至保护盒内，不便于下次测量，向上旋出打开保护盖便于对探伤仪进行维修等。

该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本实用新型结构科学合理，使用安全方便，为人们提供了很大的帮助。

附图说明