[实用新型]一种清洗系统有效
| 申请号: | 201922211885.0 | 申请日: | 2019-12-11 |
| 公开(公告)号: | CN210805718U | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
| 发明(设计)人: | 王豪兵;周彬;谢金晶;杨雪梅 | 申请(专利权)人: | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯阳光电力集团有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L31/18 |
| 代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
| 地址: | 215129 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 清洗 系统 | ||
1.一种清洗系统,其特征在于,包括清理机构(1),所述清理机构(1)包括:
承载平台(11),所述承载平台(11)能够吸附待清洗的硅片(100),且待清洗的硅片(100)的一面能够完全贴附于所述承载平台(11)上,另一面朝下设置;
清理组件(12),其设置于所述承载平台(11)的下方,所述清理组件(12)能够清洗待清洗的硅片(100)。
2.根据权利要求1所述的清洗系统,其特征在于,所述承载平台(11)上设置有多个真空孔(111),所述真空孔(111)连通于真空发生器。
3.根据权利要求1所述的清洗系统,其特征在于,所述清理机构(1)还包括清理支架(13),所述承载平台(11)转动设置于所述清理支架(13)上,以使所述承载平台(11)吸附所述硅片(100)的表面朝下设置。
4.根据权利要求1所述的清洗系统,其特征在于,所述清理组件(12)包括连通管道(121)和设置于所述连通管道(121)上的多个喷嘴(122),所述连通管道(121)的一端能够与清洗液管道(10)相连通,所述连通管道(121)的另一端与多个所述喷嘴(122)均连通,所述喷嘴(122)的出口朝向所述硅片(100)设置。
5.根据权利要求4所述的清洗系统,其特征在于,所述清理组件(12)还被配置为将清洗完的所述硅片(100)吹干。
6.根据权利要求5所述的清洗系统,其特征在于,所述清理组件(12)还包括三通阀(123),所述三通阀(123)的第一端连通于所述连通管道(121),所述三通阀(123)的第二端连通于所述清洗液管道(10),所述三通阀(123)的第三端连通于压缩空气管道(20)。
7.根据权利要求1-6任一项所述的清洗系统,其特征在于,所述清理机构(1)还包括废液收集箱(14),所述废液收集箱(14)设置于所述清理组件(12)的下方,用于收集清洗完所述硅片(100)的清洗液。
8.根据权利要求1-6任一项所述的清洗系统,其特征在于,所述清洗系统还包括刻蚀机构(2),所述刻蚀机构(2)被配置为对完成清理的所述硅片(100)的侧面进行刻蚀。
9.根据权利要求8所述的清洗系统,其特征在于,所述刻蚀机构(2)包括:
刻蚀腔体(21),其上设置有通气口(211),所述通气口(211)用于通入刻蚀气体;
导电线圈(24),其环设于所述刻蚀腔体(21)的内壁上;
固定夹具,其包括两个承载板(22),两个所述承载板(22)之间能够夹持多个所述硅片(100);
环氧树脂板(23),在相邻两个所述硅片(100)之间、以及所述硅片(100)与所述承载板(22)之间均设置有所述环氧树脂板(23)。
10.根据权利要求9所述的清洗系统,其特征在于,所述刻蚀腔体(21)上还设置有抽气口,所述抽气口连通于抽真空管路(30)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯阳光电力集团有限公司,未经苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯阳光电力集团有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201922211885.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种弱电工程的线管安装固定装置
- 下一篇:一种液体冷却装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





