[实用新型]一种新型的高精度压电陶瓷位移测试装置有效
申请号: | 201922205965.5 | 申请日: | 2019-12-11 |
公开(公告)号: | CN210862518U | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 李丽琛;姜林 | 申请(专利权)人: | 邦瓷电子科技(盐城)有限责任公司 |
主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02 |
代理公司: | 北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589 | 代理人: | 徐家升 |
地址: | 224000 江苏省盐城市经济技术开*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 高精度 压电 陶瓷 位移 测试 装置 | ||
本实用新型公开了一种新型的高精度压电陶瓷位移测试装置,包括操作平台、第二固定立杆和计力传感器,所述操作平台的左右两侧内壁均设置有滑轮轨道,且滑轮轨道的内部滑轮连接有操作移动板,所述操作移动板的上方设置有第一旋转连接块,且第一旋转连接块的上方安装有连接凹槽块,所述连接凹槽块的上方设置有连接凸槽块,且连接凸槽块的上方均设置有第一固定立杆,所述第一固定立杆的内侧均设置有第一伸缩杆,且第一伸缩杆的内侧安装有固定连接块。一种新型的高精度压电陶瓷位移测试装置,通过设置操作移动板,这样可以将操作移动板通过滑轮轨道滑动至合适位置,这样可以根据测试需求来将该装置调节至合适位置,方便操作人员使用。
技术领域
本实用新型涉及压电陶瓷相关技术领域,具体为一种新型的高精度压电陶瓷位移测试装置。
背景技术
在微位移器件中,压电陶瓷应用比较广泛,使用中压电陶瓷的位移测试是共同关注的问题。目前,对于微位移压电陶瓷的位移的测试不尽相同,有非接触式测试,包括激光测试、电涡流测试等,而接触式测试有比较常见的高度测试仪,对于非接触式测试,受测试原理的限制精度较低,而接触式测试,需要反复确认测试零点,并且电压加载后再次测试时零点的变化量难以确认,系统误差较大,对于上述几种测试方法,都难以实现压电陶瓷预紧力的在线测试。
传统的压电陶瓷位移测试装置,测试范围覆盖存在测试死角,导致测试结果有一定的误差,影响测试结果的准确性,工作效率低下,人工成本过高,为此我们提供了一种新型的高精度压电陶瓷位移测试装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种新型的高精度压电陶瓷位移测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种新型的高精度压电陶瓷位移测试装置,包括操作平台、第二固定立杆和计力传感器,所述操作平台的左右两侧内壁均设置有滑轮轨道,且滑轮轨道的内部滑轮连接有操作移动板,所述操作移动板的上方设置有第一旋转连接块,且第一旋转连接块的上方安装有连接凹槽块,所述连接凹槽块的上方设置有连接凸槽块,且连接凸槽块的上方均设置有第一固定立杆,所述第一固定立杆的内侧均设置有第一伸缩杆,且第一伸缩杆的内侧安装有固定连接块,所述固定连接块的内侧设置有压电陶瓷,所述第二固定立杆均安装在操作平台的上方,且第二固定立杆的上方均设置有升降杆,所述升降杆的内侧均设置有第二伸缩杆,且第二伸缩杆的内侧均设置有旋转杆,所述旋转杆的内侧均设置有第二旋转连接块,且第二旋转连接块的内侧均安装有计力传感器。
优选的,所述操作移动板的外壁通过滑轮轨道的内壁与操作平台的内壁构成滑动结构,且操作移动板的宽度小于操作平台的内壁宽度。
优选的,所述连接凹槽块的下端通过第一旋转连接块的内壁与操作移动板的上端构成旋转结构,且连接凹槽块与连接凸槽块之间为卡槽连接。
优选的,所述固定连接块的右端通过第一伸缩杆的外壁与第一固定立杆的内壁构成伸缩结构,且第一固定立杆关于连接凸槽块的中轴线对称设置。
优选的,所述升降杆的外壁通过第二固定立杆的内壁与操作平台的上端构成升降结构,且第二固定立杆关于操作平台的中轴线对称设置。
优选的,所述旋转杆的左端通过第二伸缩杆的外壁与升降杆的内壁构成伸缩结构,且第二伸缩杆的外径与升降杆的内径相同。
优选的,所述第二旋转连接块的右端通过旋转杆的外壁与第二伸缩杆的左端构成旋转连接,且第二旋转连接块的宽度与第二伸缩杆的宽度相同。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、该新型的高精度压电陶瓷位移测试装置,通过设置操作移动板,这样可以将操作移动板通过滑轮轨道滑动至合适位置,这样可以根据测试需求来将该装置调节至合适位置,方便操作人员使用;
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