[实用新型]一种卷芯极耳胶高度测量夹具

说明书

本实用新型公开了一种卷芯极耳胶高度测量夹具，包括测试夹具主体，测试夹具主体中间具有一个卷芯放置腔(1)，卷芯放置于卷芯放置腔(1)内，测试夹具主体的正对极耳(11)以及极耳胶(12)的位置设置有极耳胶槽(4)以及极耳槽(3)，测试时，极耳(11)扣入于极耳槽(3)内，极耳胶(12)扣入于极耳胶槽(4)内，在极耳胶槽(4)内设定一个高低台阶(2)，限位极耳胶(12)外露。本实用新型在卷芯测量夹具内增加极耳胶槽，以及在极耳胶槽内设定一个高低台阶限位极耳胶外露上下限，可测量卷芯极耳胶外露上下限，防止正负极隔膜包覆不良卷芯流出及极耳胶高低造成的封装后尺寸不良。

技术领域

本实用新型涉及一种夹具，具体涉及一种卷芯极耳胶高度测量夹具。

背景技术

目前已有的卷芯测量装置无法检测出卷芯的极耳胶外露高低，而导致的正负极包覆不良及极片不居中隔膜，造成卷芯封装后极耳胶无外露或外露超高、正负极隔膜包覆不良引起的电池品质问题。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是一种卷芯极耳胶高度测量夹具，可测量卷芯极耳胶外露上下限，防止正负极隔膜包覆不良卷芯流出及极耳胶高低造成的封装后尺寸不良。

本实用新型是通过以下技术方案来实现的：一种卷芯极耳胶高度测量夹具，包括测试夹具主体，测试夹具主体中间具有一个卷芯放置腔，卷芯放置于卷芯放置腔内，测试夹具主体的正对极耳以及极耳胶的位置设置有极耳胶槽以及极耳槽，测试时，极耳扣入于极耳槽内，极耳胶扣入于极耳胶槽内，在极耳胶槽内设定一个高低台阶，限位极耳胶外露。

本实用新型的有益效果是：本实用新型在卷芯测量夹具内增加极耳胶槽，以及在极耳胶槽内设定一个高低台阶限位极耳胶外露上下限，可测量卷芯极耳胶外露上下限，防止正负极隔膜包覆不良卷芯流出及极耳胶高低造成的封装后尺寸不良。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的夹具的结构示意图；

图2为本实用新型的夹具的内部侧视图；

图3为本实用新型的卷芯的结构示意图。

具体实施方式

本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。

本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“一端”、“另一端”、“外侧”、“上”、“内侧”、“水平”、“同轴”、“中央”、“端部”、“长度”、“外端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。