[实用新型]一种斜面孔深度及孔径检测装置有效

专利信息
申请号: 201922144693.2 申请日: 2019-12-04
公开(公告)号: CN210862493U 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 刘旭;刘昌金;陈晶晶;苏振驰;王敏;万长东 申请(专利权)人: 苏州市职业大学
主分类号: G01B5/18 分类号: G01B5/18;G01B5/08;G01B7/26
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 楼高潮
地址: 215104 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 斜面 深度 孔径 检测 装置
【说明书】:

实用新型是一种斜面孔深度及孔径检测装置,包括底座,所述底座的上表面设有一对相平行的梯形燕尾槽,底座通过梯形燕尾槽与工作台下端的梯形凸台相滑接配合,工作台上方设有横梁,横梁两端通过桥架连接至底座的两侧,横梁上滑动地设有中央滑台,中央滑台中竖向设有一Z轴连杆,Z轴连杆的下端设有连接头,连接头上转动地设有杆件旋转头,杆件旋转头上分别连接有始终保持相互垂直的斜面孔径向通规与斜面孔径向止规。本实用新型测量斜面孔深度时工作效率高,使用配套的通规和止规测量斜面孔直径,不容易引起误判,使用方便,并且结构简单,造价低,易推广。

技术领域

本实用新型涉及精密检测技术领域,具体涉及一种斜面孔深度及孔径检测装置。

背景技术

对于广泛使用的斜面孔结构零件,在高精度的场合中使用时,其斜面孔深度和孔径是很关键的指标,而且在批量化的生产制造过程中,如何更快速、更准确地对斜面零件的孔深和孔径尺寸进行测量,是非常有必要的。通常,斜面孔深度和孔径的检测方式是使用高精度的三坐标检测仪进行检测。但是,这种测量方式,不仅需要耗费较长的时间,而且三坐标仪价格昂贵,一般的企业很难承受。而普通的刻度检具,无法快速的判定产品深度和孔径是否合格,容易出现错误检测。为解决上述问题特别是斜面孔深度是否在公差范围内的问题,本实用新型提供了一种斜面孔深度及孔径检测装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术存在的问题,提供一种斜面孔深度及孔径检测装置,解决现有孔深测量检具检测工具造价高,检测时间长,同时,不能测量出所测量孔深度是否在公差范围内的问题。

为实现上述技术目的,达到上述技术效果,本实用新型通过以下技术方案实现:

一种斜面孔深度及孔径检测装置,该装置包括底座,所述底座的上表面设有一对相平行的梯形燕尾槽,所述底座通过梯形燕尾槽与工作台下端的梯形凸台相滑接配合,所述工作台上方设有横梁,所述横梁两端通过桥架连接至底座的两侧,所述横梁上滑动地设有中央滑台,所述中央滑台中竖向设有一Z轴连杆,所述Z轴连杆的下端设有连接头,所述连接头上转动地设有杆件旋转头,所述杆件旋转头上分别连接有始终保持相互垂直的斜面孔径向通规与斜面孔径向止规,所述斜面孔径向通规和斜面孔径向止规随杆件旋转头的转动依次指向装夹于工作台上的待测工件,用于测量斜面孔深度和斜面孔直径。

进一步的,所述斜面孔径向通规上滑动地套接有量块,所述量块一侧设有销钉,所述销钉穿过量块与斜面孔径向通规接触,用于对量块在斜面孔径向通规上的滑动进行限位,所述量块与待测工件相正对的面为斜面,并且所述量块的该斜面与待测工件上待测斜孔所形成的斜面相平行。

进一步的,所述斜面孔径向通规与量块的滑动配合段处为阶梯轴形状,斜面孔径向通规的轴肩处与销钉相阻挡,便于对量块的滑动进行限位。

进一步的,所述斜面孔径向通规与量块的滑动配合段上设有固定块,所述固定块上设有错开高度的上偏差触发开关和下偏差触发开关,用于上下偏差的检测。

进一步的,所述固定块上留有导线槽,用于引出上偏差触发开关和下偏差触发开关的导线,导线上连接相应的电源和触发反馈装置,用于提示待测工件上的斜面孔深度是否在公差范围内。

进一步的,所述Z轴连杆的上端通过钢丝绳绕过滑轮连接一配重块,以配重块调节Z轴连杆的竖向高度。

进一步的,所述底座的两侧几何中心分别开有相互对称的螺纹孔,桥架的下端通过该螺纹孔及相应螺钉与底座固定在一起。

进一步的,所述工作台上设有若干排列规则的螺纹孔阵列,该螺纹孔阵列中的螺纹孔与一端设有螺纹的定位销相配合,用于拧入工作台的相应位置螺纹孔中实现对待测工件的快速定位。

进一步的,所述工作台上设有移动把手,用于拉动工作台沿梯形燕尾槽的方向移动。

本实用新型的有益效果是:

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