[实用新型]一种用于XRD测试设备的自控升温装置

说明书

本实用性公开了一种用于XRD测试设备的自控升温装置，其技术方案要点是包括样品台、设置于样品台下端的自控温加热层和内嵌于自控温加热层的热电偶；所述自控温加热层包括从上至下依次设置的绝缘层、发热层、电极层和保护层，所述电极层的侧部设有第一连接件，所述热电偶的侧部设有第二连接件；所述样品台上端设有样品槽。本实用新型结构简单，操作方便,测试温度范围为室温至600℃，适用于目前常见的Bruker D8‑Advance和日本理学D/max2200VPC等型号的X射线衍射仪。

技术领域

本实用新型涉及分析仪器加热样品台装置,具体涉及一种具有自控温性能的X射线衍射仪测试设备用升温装置。

背景技术

随着科学研究的日益深入，以及对样品的表征技术的要求的提高，X射线衍射技术已经成为最基本、最重要的一种结构测试手段之一，特别在凝聚态物理、材料科学、生命医学、化学化工、地学、矿物学、环境科学、考古学、历史学等众多领域发挥了积极作用，并且随着原位技术的发展，实现原位观测材料动态变化过程中各阶段物质内部微观结构的变化变得更为重要，基于此目前部分仪器生产厂家早已开始对现有的材料表征设备增加辅助配件，升级功能，以满足广泛使用的原位技术。

目前在进行高温原位物相分析的研究时，一般都需要将基本样品台或模块卸下,换成购买的昂贵的高温附件，并且还需要对X射线衍射仪的参数进行重新调整，更换仪器的附件不仅操作复杂,而且需要花费大量时间,甚至有可能对仪器的基本性能造成损坏。特别是当所测试的样品对升温的精度不高的时候, 购买更换昂贵的高温附件就显得费时费力，所以设计出一种结构简单,使用方便的可控升温装置显得尤为重要。

实用新型内容

针对于在现有的XRD仪器在进行原位高温测试中装卸更换昂贵的样品台附件或加热模块,反复调整仪器参数时所出现的操作繁琐,费时费力等问题,提供了一种XRD测试设备用自控温升温装置，其结构简单，操作方便,测试温度范围为室温至600℃，适用于目前常见的Bruker D8-Advance 和日本理学 D/max2200VPC等型号的 X射线衍射仪。

为解决上述问题，本实用新型所实现的技术方案为：一种用于XRD测试设备的自控升温装置，包括样品台、设置于样品台下端的自控温加热层和内嵌于自控温加热层的热电偶；所述自控温加热层包括从上至下依次设置的绝缘层、发热层、电极层和保护层，所述电极层的侧部设有第一连接件，所述热电偶的侧部设有第二连接件；所述样品台上端设有样品槽。

通过采用上述技术方案，所述样品槽用于装载待测样品，热电偶用于检测待测样品的实时温度，自控温加热层中的电极层和热电偶分别通过第一连接件和第二连接件引出，转接到控温仪上，从而达到用于XRD测试设备的自控温升温的效果；绝缘层和保护层的设置提高了安全性。

本实用新型进一步设置为：配合所述自控温加热层设有转接头，所述转接头设有连接于控温仪的转接口。

通过采用上述技术方案，通过转接口与控温仪相连接，可以通过检测实时温度和调节输入电压达到测试中所需要的温度，同时也方便连接使用，提高了安全性。

本实用新型进一步设置为：所述第一连接件包括连接于电极层的电极层引线、连接电极层引线与转接头的导线。

通过采用上述技术方案，电流通过导线和电极层引线传输给电极层，电极层产生的热量通过绝缘层传输给样品槽从而给待测样品加热。

本实用新型进一步设置为：所述热电偶内嵌于保护层内，所述第二连接件包括穿入保护层与热电偶连接的热电偶引线、连接热电偶与转接头的导线。

通过采用上述技术方案，使得热电偶检测的实时温度数据更接近于样品的实际温度，使得实际所测得的数据更加准确。

本实用新型进一步设置为：所述样品台包括金属、石英、玻璃和导热聚合物材料中的任意一种或几种。