[实用新型]一种测量物体转动角度的系统有效

专利信息
申请号: 201922114247.7 申请日: 2019-12-02
公开(公告)号: CN210603225U 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 王德麾;黄鹏;谢志梅;姜世平;董小春 申请(专利权)人: 四川芯辰光微纳科技有限公司
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 管高峰;夏琴
地址: 610000 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 物体 转动 角度 系统
【权利要求书】:

1.一种测量物体转动角度的系统,其特征在于,所述系统包括CCD相机,微结构高分子薄膜,待测物体以及与CCD相机连接的显示器,所述微结构高分子薄膜贴于待测物体表面,所述微结构高分子薄膜朝着放置CCD相机的方向。

2.如权利要求1所述的一种测量物体转动角度的系统,其特征在于,所述待测物体至少有一个平面。

3.如权利要求1所述一种测量物体转动角度的系统,其特征在于,所述CCD相机与微结构高分子薄膜的间距为10~30cm。

4.如权利要求1所述一种测量物体转动角度的系统,其特征在于,所述微结构高分子薄膜包括微透镜阵列层、高分子薄膜层和微图形阵列层,微透镜阵列层和微图形阵列层分别设置于高分子薄膜层的两个表面。

5.如权利要求1所述一种测量物体转动角度的系统,其特征在于,所述微结构高分子薄膜从上至下依次包括微透镜阵列层、高分子薄膜层和微图形阵列层,微透镜阵列层和微图形阵列层分别设置于高分子薄膜层的上下表面。

6.如权利要求5所述一种测量物体转动角度的系统,其特征在于,所述微透镜阵列与所述微图形阵列的排布方式相同,均为四边形排布或六边形排布。

7.如权利要求5所述一种测量物体转动角度的系统,其特征在于,所述微透镜阵列与所述微图形阵列的周期不同。

8.如权利要求5所述一种测量物体转动角度的系统,其特征在于,所述微透镜阵列与所述微图形阵列在其周期排布方向上的夹角为0。

9.如权利要求5所述一种测量物体转动角度的系统,其特征在于,所述高分子薄膜层厚度等于微透镜阵列的焦距。

10.如权利要求5所述一种测量物体转动角度的系统,其特征在于,所述高分子薄膜层为PET、PVC、PMMA中的一种。

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