[实用新型]异方性导电胶膜导电粒子检测机检测用检测平台

说明书

异方性导电胶膜导电粒子检测机检测用检测平台，包括托板(1)，托板(1)的板面位于水平方向，托板(1)的板面上设有贯穿板面的观察窗口(2)，托板(1)的上表面上设有一个以上的真空吸口(3)，每个真空吸口(3)分别与位于托板(1)内的抽气通道(4)相连。其目的在于提供一种能够快速固定对异方性导电胶膜，对异方性导电胶膜的固定效果好、效率高的异方性导电胶膜导电粒子检测机检测用检测平台。

技术领域

本实用新型涉及一种异方性导电胶膜导电粒子检测机检测用检测平台。

背景技术

异方性导电胶膜(Anisotropic Conductive Film，ACF)是一种可以在短时间内达到导电性连接的材料。异方性导电胶膜也即ACF所起到的主要作用：导电，绝缘，粘接，其主要包括树脂黏着剂、导电粒子两大部分；树脂黏着剂功能除了防湿气，接着，耐热及绝缘功能外主要为固定IC芯片与基板间电极相对位置，并提供一压迫力量已维持电极与导电粒子间的接触面积。

在导电粒子方面，异方导电特性主要取决于导电粒子的充填率。虽然异方性导电胶其导电率会随着导电粒子充填率的增加而提高，但同时也会提升导电粒子互相接触造成短路的机率。

另外，导电粒子的粒径分布和分布均匀性亦会对异方导电特性有所影响。通常，导电粒子必须具有良好的粒径均一性和真圆度，以确保电极与导电粒子间的接触面积一致，维持相同的导通电阻，并同时避免部分电极未接触到导电粒子，导致开路的情形发生。常见的粒径范围在3-5μm之间，太大的导电粒子会降低每个电极接触的粒子数，同时也容易造成相邻电极导电粒子接触而短路的情形；太小的导电粒子容易行成粒子聚集的问题，造成粒子分布密度不平均。在导电粒子的种类方面目前已金属粉末和高分子塑料球表面涂布金属为主。常见使用的金属粉镍(Ni)、金(Au)、镍上镀金、银及锡合金等。

平时导电粒子在黏合剂中均匀分布,互不接触,加之有一层绝缘膜,ACF膜是不导电的,当对ACF膜加压、加热后(一般加压、加热分两次,第一次为临时贴在产品上60℃～100℃,(3～ 10)×104Pa,2s～10s出货，第二次为部品搭载时约150℃～200℃,(20～40)×104Pa,10 s～20s)导电粒子绝缘膜破裂,并互相在有线路的部分(因为较无线路部分突起)挤压在一起, 形成导通,被挤压后的导电粒子体积是原来的3～4倍(导电粒子体积不变，差别在於原本是球体状，经过热压后变成类似圆饼状，让上下电极有更多的面积接触到导电粒子),加热使黏合剂固化,保持导通状态。一般导通部分电阻在10Ω以下,未导通部分相邻端子间在100MΩ以上。

异方性导电胶膜导电粒子检测机是一种用于检测异方性导电胶膜上的导电粒子的分布状态的设备，被检测的异方性导电胶膜通常都是呈片状的矩形，并且被检测的异方性导电胶膜的尺寸大小也是不确定的，会在一定范围内变化，为了能够将多种尺寸的异方性导电胶膜放到检测工作台上，要求异方性导电胶膜导电粒子检测机的检测平台具有能够快速固定对异方性导电胶膜，对异方性导电胶膜的固定效果好、效率高的功能，但现有的检测平台由于在设计上存在着诸多问题，导致其在这方面的适应性较差，工作效率较低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种能够快速固定对异方性导电胶膜，对异方性导电胶膜的固定效果好、效率高的异方性导电胶膜导电粒子检测机检测用检测平台。

本实用新型的异方性导电胶膜导电粒子检测机检测用检测平台，包括托板，托板的板面位于水平方向，托板的板面上设有贯穿板面的观察窗口，托板的上表面上设有一个以上的真空吸口，每个真空吸口分别与位于托板内的抽气通道相连。

优选地，所述真空吸口为长条形或矩形或圆环形。

优选地，所述真空吸口的水平截面为L形，真空吸口的数量为4—16个，所述托板内并列设有多个抽气通道，多个抽气通道分别沿水平方向延伸至托板的一个侧面。