[实用新型]一种陶瓷继电器形位公差快速检测工装有效
| 申请号: | 201922017338.9 | 申请日: | 2019-11-20 |
| 公开(公告)号: | CN210664307U | 公开(公告)日: | 2020-06-02 |
| 发明(设计)人: | 刘溪海;王美霞;康文涛;张桓桓 | 申请(专利权)人: | 娄底市安地亚斯电子陶瓷有限公司 |
| 主分类号: | G01B5/252 | 分类号: | G01B5/252 |
| 代理公司: | 长沙朕扬知识产权代理事务所(普通合伙) 43213 | 代理人: | 邓宇 |
| 地址: | 41700*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 陶瓷 继电器 公差 快速 检测 工装 | ||
本实用新型公开了一种陶瓷继电器形位公差快速检测工装,包括工装本体,工装本体设有用于容置陶瓷继电器的可伐框片的基准沉孔,基准沉孔的底部设有用于容置陶瓷继电器的陶瓷件的基准孔。本实用新型的检测工装具有检测速度快、成本低、操作便捷、可有效管控产品质量的优点。
技术领域
本实用新型涉及辅助检测工具技术领域,具体涉及一种陶瓷继电器形位公差快速检测工装。
背景技术
继电器是一种常用的电控制器件,其实际上是利用小电流控制大电流运作的一种自动开关,在电路中起着自动调节、安全保护、转换电路等作用。陶瓷继电器主要包括陶瓷件、可伐框片和电极铜柱,通常,三个部件在灭弧室焊接组合成陶瓷继电器。因三个部件本身有尺寸公差,焊接过程也会产生加工公差,及三个部件热膨胀系数不同,导致接焊组合成的陶瓷继电器存在形位公差。形位公差超过一定值时,会影响陶瓷继电器的电性能及使用寿命,例如可伐框片与陶瓷件的对称度公差超过一定值,会影响后续导磁体的定位,导致触电片接触偏位或接触不良,进而产生大的电弧和高温,影响继陶瓷电器的使用寿命。
目前,形位公差的检测方法主要有二次元检测仪检测和对称尺测量。二次元检测仪设备大、成本高,且检测花费时间过长。对称尺测量的检测效率低、检测结果可靠性差,且对测量范围有限制。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术存在的不足,提供一种检测速度快、成本低、操作便捷、可有效管控产品质量的陶瓷继电器形位公差快速检测工装。
为解决上述技术问题,本实用新型采用以下技术方案:
一种陶瓷继电器形位公差快速检测工装,包括工装本体,所述工装本体设有用于容置陶瓷继电器的可伐框片的基准沉孔,所述基准沉孔的底部设有用于容置陶瓷继电器的陶瓷件的基准孔。
上述的陶瓷继电器形位公差快速检测工装中,优选的,所述工装本体包括第一本体和第二本体,所述第一本体具有第一贯通孔,所述第二本体以可拆卸方式插设安装在第一贯通孔中,所述第二本体与第一贯通孔围成所述基准沉孔,所述第二本体设有作为所述基准孔的第二贯通孔。
上述的陶瓷继电器形位公差快速检测工装中,优选的,所述第二本体通过若干个可拆卸连接机构以可拆卸方式插设安装在第一贯通孔中,所述可拆卸连接机构包括插销、设于所述第一本体上的第一销孔和设于第二本体上的第二销孔,所述插销插设于第一销孔和第二销孔中。
上述的陶瓷继电器形位公差快速检测工装中,优选的,所述第一本体底部设有两个分设于所述第一贯通孔两侧的支架。
上述的陶瓷继电器形位公差快速检测工装中,优选的,所述支架为条形凸台。
上述的陶瓷继电器形位公差快速检测工装中,优选的,所述基准沉孔和基准孔均为矩形孔,所述基准沉孔的中心线和基准孔的中心线重合,所述基准沉孔的长度比可伐框片的长度大0~0.25mm,所述基准沉孔的宽度比可伐框片的宽度大0~0.25mm,所述基准孔的长度为陶瓷件的长度的公差上限值,所述基准孔的宽度为陶瓷件的宽度的公差上限值。
与现有技术相比,本实用新型的优点在于:
本实用新型的陶瓷继电器形位公差快速检测工装,可快速检测陶瓷继电器的对称度,其操作便捷,检测速度快,极大的简化了操作步骤,能有效的降低检测时间和成本,且检测结果可靠,能有效的管控产品质量。本实用新型的陶瓷继电器形位公差快速检测工装结构简单、容易制作、成本低。
附图说明
图1为陶瓷继电器形位公差快速检测工装的俯视结构示意图。
图2为陶瓷继电器形位公差快速检测工装的侧视结构示意图。
图3为陶瓷继电器形位公差快速检测工装的侧剖视结构示意图。
图4为陶瓷继电器的主视结构示意图。
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