[实用新型]一种电子产品老化测试装置有效

专利信息
申请号: 201921983942.0 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN210953752U 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 董亚勇;郭彦良 申请(专利权)人: 刘宁
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00
代理公司: 濮阳华凯知识产权代理事务所(普通合伙) 41136 代理人: 王传明
地址: 301700 天津市武清区杨*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子产品 老化 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种电子产品老化测试装置,包括左端开口的箱体(1),其特征在于,箱体(1)底板上固定有矩形围框(11),围框(11)上端四角均固定有凸柱(15),围框(11)上方设置有垫板(16),垫板(16)下端开设有与凸柱(15)对应的盲孔,凸柱(15)位于盲孔内,围框(11)内的箱体(1)底板上镶嵌设置有风扇(10),风扇(10)的进风端与箱体(1)底板上的风道(9)连通,风道(9)与箱体(1)外界连通,围框(11)右侧的箱体(1)底板上固定有固定柱(13),固定柱(13)上铰连接有摆杆(14),摆杆(14)上端固定有与其垂直的上杆(19),上杆(19)位于垫板(16)上方,上杆(19)下方设置有与其平行的压杆(18),压杆(18)上端延其长度方向固定有多个与其垂直的光杆(20),光杆(20)贯穿上杆(19),上杆(19)上端固定有挡板(22),上杆(19)和压杆(18)之间的光杆(20)上套设有弹簧(21),围框(11)上贯穿设置有横向的顶杆(12),顶杆(12)与围框(11)滑动配合,顶杆(12)一端与摆杆(14)下部接触,箱体(1)左侧下端与箱盖(5)下端铰连接,箱体(1)上端铰连接有搭扣(7),箱体(1)上端固定有与搭扣(7)配合的扣耳(8),顶杆(12)另一端与箱盖(5)接触,

上杆(19)上方的箱体(1)内固定有上板(23),上板(23)的左右两侧均开设有纵向的长槽(26),上板(23)下方设置有测试元件(33),测试元件(33)上端固定有两个竖直的连杆(24),连杆(24)与长槽(26)对应,连杆(24)贯穿其一侧的长槽(26)并与其滑动配合,连杆(24)上沿其高度方向开设有多个横向的槽孔(25),挡杆(31)贯穿上板(23)上方连杆(24)上的槽孔(25),两长槽(26)之间的上板(23)上端面开设有纵向的凹槽(27),上板(23)上方的箱体(1)内转动连接有纵向的往复丝杠(29),往复丝杠(29)与箱体(1)后端电机(28)的输出轴连接,往复丝杠(29)上螺纹连接有活动块(32),活动块(32)下端前后两侧均固定有夹板(30),夹板(30)滑动设置在凹槽(27)内,挡杆(31)位于两夹板(30)之间,箱体(1)上端固定有显示屏(4),显示屏(4)与测试元件(33)电性连接。

2.根据权利要求1所述一种电子产品老化测试装置,其特征在于,所述箱盖(5)上开设有孔,孔内固定有视窗玻璃(6)。

3.根据权利要求1所述一种电子产品老化测试装置,其特征在于,所述箱体(1)右侧板上开设有开孔(2),开孔(2)内固定有滤网(3)。

4.根据权利要求1所述一种电子产品老化测试装置,其特征在于,所述箱盖(5)与箱体(1)通过合页铰连接。

5.根据权利要求1所述一种电子产品老化测试装置,其特征在于,所述垫板(16)上开设有多个竖直的通孔(17)。

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