[实用新型]常压下浸没式连续变低温微纳米压痕测试装置有效

专利信息
申请号: 201921952188.4 申请日: 2019-11-13
公开(公告)号: CN211668994U 公开(公告)日: 2020-10-13
发明(设计)人: 赵宏伟;王顺博;李思锐;王赵鑫;王赫 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: G01N3/54 分类号: G01N3/54;G01N3/18;G01N3/02
代理公司: 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 代理人: 王怡敏
地址: 130000 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 压下 浸没 连续 低温 纳米 压痕 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种常压下浸没式连续变低温微纳米压痕测试装置,其特征在于:包括宏定位驱动单元、微定位驱动单元、压入载荷/位移信号采集及控制单元、低温单元和夹持单元;

所述宏定位驱动单元包括x向驱动平台(15)、y向驱动平台(16)和z向驱动平台(1),y向驱动平台(16)放置于x向驱动平台(15)上方并固连,调控被测试件(30)在xy平面内的位置,z向驱动平台(1)调控压头(29)在z轴方向的位置,z向驱动平台(1)固定于基座(25)上;

所述微定位驱动单元包括柔性铰链(5)和压电叠堆(6),其中压电叠堆(6)位于柔性铰链(5)内部并处于受压状态,保证通电后压电叠堆(6)无间隙推动压头(29)沿z轴负方向移动,柔性铰链(5)通过柔性铰链固定螺钉(24)固连在导向板I(4)上,导向板I(4)与z向驱动平台(1)相连,可随其沿z轴运动;

所述压入载荷/位移信号采集及控制单元包括精密力传感器(23)和电容式位移传感器(7),其中,精密力传感器(23)与柔性铰链(5)通过螺纹固连,电容式位移传感器(7)通过旋转调整螺钉(28)夹持于夹持块(8)中,夹持块(8)通过连接螺钉(27)与悬臂梁(3)固连,悬臂梁(3)通过悬臂梁固定螺钉(26)与手动平台(2)固连,手动平台(2)与导向板I(4)连接,通过调整侧边旋钮可调节电容式位移传感器(7)与电容板(9)之间的间距,保证电容式位移传感器(7)与电容板(9)之间的间距时刻保持在电容式位移传感器(7)的量程范围内。

2.根据权利要求1所述的常压下浸没式连续变低温微纳米压痕测试装置,其特征在于:所述的低温单元包括被测试件腔(10)、帕尔贴片组(18)和隔热层(19),其中,隔热层(19)平面一侧胶接于被测试件腔(10)x轴正方向、x轴负方向、y轴正方向、y轴负方向与z轴负方向五个外表面处,隔热层(19)的凹槽侧背离被测试件腔(10),帕尔贴片组(18)冷端胶接于被测试件腔(10)x轴正方向、x轴负方向、y轴正方向、y轴负方向与z轴负方向五个外表面处,位于隔热层(19)凹槽中。

3.根据权利要求1所述的常压下浸没式连续变低温微纳米压痕测试装置,其特征在于:所述的夹持单元由压紧盖(33)与硅橡胶圈(31)组成,其中硅橡胶圈(31)位于压紧盖(33)下方凹槽内,被测试件(30)位于硅橡胶圈(31)与被测试件腔(10)内底部中间,并由被测试件固定螺钉(32)固定夹紧于硅橡胶圈(31)与被测试件腔(10)底部中间。

4.根据权利要求1所述的常压下浸没式连续变低温微纳米压痕测试装置,其特征在于:所述的精密力传感器(23)通过螺纹与隔热圆柱(22)固连,电容板(9)位于精密力传感器(23)与隔热圆柱(22)中间并被夹持固定,加热环(21)胶接于隔热圆柱(22)下方,压头夹持杆(20)胶接于加热环(21)下方,压头(29)胶接于压头夹持杆(20)下方,控制加热环(21)发热功率,保证由下方压头(29)传递过来的低温对上方的精密力传感器(23)不产生影响。

5.根据权利要求2所述的常压下浸没式连续变低温微纳米压痕测试装置,其特征在于:所述的帕尔贴片组(18)由直流电源供电,通过调节电源输出电压保证帕尔贴片组(18)的恒功率输出,在工作状态中,帕尔贴片组(18)与被测试件腔(10)相胶接一侧制冷并吸收被测试件腔(10)的热量,使被测试件腔(10)及内部组件的温度降低,帕尔贴片组(18)远离被测试件腔(10)的一侧发热,需预留空间对其进行散热。

6.根据权利要求2或3或5所述的常压下浸没式连续变低温微纳米压痕测试装置,其特征在于:所述的被测试件腔(10)放置于四根隔热空心杆(14)上,隔热空心杆(14)放置于导向板II(17)表面上,隔热空心杆(14)内部有长螺柱(11)穿过,长螺柱(11)下端旋进于导向板II(17)中的螺纹中,隔热圆环(13)套于长螺柱(11)上方并放置于被测试件腔(10)侧方平台上,螺母(12)旋进长螺柱(11)上方将被测试件腔(10)固定,隔热空心杆(14)与隔热圆环(13)将被测试件腔(10)产生的低温与金属件长螺柱(11)相隔离,阻值热量由下方的y向驱动平台(16)流向被测试件(30)区域。

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