[实用新型]一种芯片定位装置有效
| 申请号: | 201921904210.8 | 申请日: | 2019-11-06 |
| 公开(公告)号: | CN211062692U | 公开(公告)日: | 2020-07-21 |
| 发明(设计)人: | 杨燕梅 | 申请(专利权)人: | 深圳市易达凯电子有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683;H01L21/677 |
| 代理公司: | 深圳市凯博企服专利代理事务所(特殊普通合伙) 44482 | 代理人: | 李绍飞 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 芯片 定位 装置 | ||
1.一种芯片定位装置,包括芯片本体,其特征在于:该芯片定位装置还包括橡胶漏斗、橡胶块A、橡胶块B、橡胶块C、橡胶块D和橡胶凸起A,所述橡胶漏斗的端截面形状为方环形,橡胶漏斗包含漏斗通道,漏斗通道包含一侧部和另一侧部,在所述漏斗通道内,所述橡胶块A和橡胶块B的一侧分别固定连接漏斗通道的一侧,橡胶块A和橡胶块B的另一侧分别设置与芯片本体相配合的卡槽A和卡槽B,所述橡胶块C和橡胶块D的一侧分别固定连接漏斗通道的另一侧,橡胶块C和橡胶块D的另一侧分别设置与芯片本体相配合的卡槽C和卡槽D,所述卡槽A包含槽底A和槽开口A,所述卡槽B包含槽底B和槽开口B,所述卡槽C包含槽底C和槽开口C,所述卡槽D包含槽底D和槽开口D,所述卡槽A靠近槽开口A的位置、卡槽B靠近槽开口B的位置、卡槽C靠近槽开口C的位置和卡槽D靠近槽开口D的位置分别固定设置橡胶凸起A,所述芯片本体通道卡槽A、卡槽B、卡槽C和卡槽D卡设在漏斗通道内。
2.根据权利要求1所述的芯片定位装置,其特征在于:所述卡槽A的槽底A距离卡槽C的槽底C之间的直线距离大于卡槽B的槽底B距离卡槽D的槽底D之间的直线距离。
3.根据权利要求1所述的芯片定位装置,其特征在于:所述卡槽A距离卡槽B的最近直线距离和卡槽C距离卡槽D的最近直线距离大于漏斗通道的通道最大长度的三分之一。
4.根据权利要求1所述的芯片定位装置,其特征在于:所述卡槽A的槽开口的最大长度大于卡槽A的槽底A的最大长度,所述卡槽B的槽开口的最大长度大于卡槽B的槽底B的最大长度。
5.根据权利要求1所述的芯片定位装置,其特征在于:所述卡槽C的槽开口的最大长度大于卡槽C的槽底C的最大长度,所述卡槽D的槽开口的最大长度大于卡槽D的槽底D的最大长度。
6.根据权利要求1所述的芯片定位装置,其特征在于:所述槽底A、槽底B、槽底C和槽底D上分别均匀分布有橡胶凸起B,所述芯片本体通过橡胶凸起A和橡胶凸起B间接与橡胶块A、橡胶块B、橡胶块C和橡胶块D接触。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





