[实用新型]一种微颗粒强度测量仪

权利要求书

1.一种微颗粒强度测量仪，其特征在于，包括显微装置(1)、移动载台(2)、移动支架(3)、微力传感器(4)和信息处理装置(5)，所述移动载台(2)上用于放置样品或样品载片，所述移动支架(3)上固定有所述微力传感器(4)，所述微力传感器(4)上安装有施力装置，所述施力装置用于直接对所述样品或对所述样品载片上的所述样品施加作用力，所述微力传感器(4)和所述显微装置(1)均与所述信息处理装置(5)通过电性连接。

2.根据权利要求1所述的微颗粒强度测量仪，其特征在于，所述显微装置(1)包括至少一个显微镜(7)和至少一个镜头支架(8)，所述显微镜(7)固定在所述镜头支架(8)上。

3.根据权利要求2所述的微颗粒强度测量仪，其特征在于，所述镜头支架(8)为多轴调节支架，所述镜头支架(8)支撑所述显微镜(7)在水平方向和竖直方向上的移动。

4.根据权利要求1所述的微颗粒强度测量仪，其特征在于，所述移动载台(2)包括夹持平台(10)和第一移动平台(11)，所述夹持平台(10)上设置有夹片，所述夹片用于固定所述样品或所述样品载片，所述夹持平台(10)安装在所述第一移动平台(11)上，所述第一移动平台(11)支撑所述夹持平台(10)在水平方向和竖直方向上的移动。

5.根据权利要求1所述的微颗粒强度测量仪，其特征在于，所述移动支架(3)包括第二移动平台(12)和安装架(13)，所述微力传感器(4)安装在所述安装架(13)上，所述安装架(13)安装在所述第二移动平台(12)上，所述第二移动平台(12)支撑所述安装架(13)在水平方向上的移动。

6.根据权利要求5所述的微颗粒强度测量仪，其特征在于，所述安装架(13)上设置有驱动电机(14)，所述驱动电机(14)用于调节所述安装架(13)在竖直方向上的升降。

7.根据权利要求5所述的微颗粒强度测量仪，其特征在于，所述显微装置(1)、所述移动载台(2)、所述移动支架(3)、所述微力传感器(4)和所述信息处理装置(5)均安装在底盘(6)上，所述底盘(6)为平面底板。

8.根据权利要求1-7中任意一项所述的微颗粒强度测量仪，其特征在于，所述施力装置为第一探针(15)，所述第一探针(15)安装在所述微力传感器(4)上。

9.根据权利要求1-6中任意一项所述的微颗粒强度测量仪，其特征在于，所述施力装置为夹持器(16)，所述夹持器(16)设有两个，分别设置在所述微力传感器(4)和移动载台(2)上，所述样品被两个所述夹持器(16)夹持。

10.根据权利要求1-6中任意一项所述的微颗粒强度测量仪，其特征在于，所述施力装置为第二探针(17)，所述第二探针(17)安装在所述微力传感器(4)上，所述移动载台(2)上固定有所述样品载片，所述第二探针(17)远离所述微力传感器(4)的一端设置有剪切片(18)，所述剪切片(18)用于沿水平方向剪切所述样品。