[实用新型]一种影像截取与电性量测快速切换改善模组

说明书

本实用新型公开了一种影像截取与电性量测快速切换改善模组，包括测试机测试程序驱动模块，所述测试机测试程序驱动模块与交换界面模块连接，且交换界面模块上设置有继电器，所述继电器分别与电性量测模块和影像解码与传输通道模块连接，且电性量测模块和影像解码与传输通道模块分别与测试机测试程序驱动模块连接。本实用新型能够用于CIS晶圆测试，通过将电性与图像分开处理,在做过电性测量后,藉由交换界面模块来进行切换，将好的芯片做图像截取,坏的就跳过图像截取,能够显著提高测试速度和效率。

技术领域

本实用新型属于CIS芯片技术领域，具体涉及一种影像截取与电性量测快速切换改善模组。

背景技术

CIS(CMOS Image Sensor)芯片，是用于制造影像传感器的芯片元件，在CIS晶圆测试上，测试机必须对其做电性量测与影像感应的量测。电性测量是透过DC量测线路来测量晶圆的电性参数，反馈的电性参数来判断每颗芯片的好坏。影像感应测量，是透过光源机的光源照在晶圆上，每颗芯片对光源的反应再通过MIPI高速通道做解码与截取图像，将图像呈现在设备上来判断芯片功能的好坏。

现有的CIS晶圆测试技术模组，是将电性测量与影像测量所需要的组件整合在一块模组板上，再由测量系统程序来定义测量项目、电性与图像量测切换的路径与顺序，但由于图象量测的解码功能和影像截取传输与电性量测在导通路径的规格与所使用的量测资源皆有不同的要求，使得这种板卡组件多、线路复杂,组件成本较高，另外由于线路与元器件复杂，所以测试速度相对较慢。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种影像截取与电性量测快速切换改善模组，以解决上述背景技术中提出的技术问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：一种影像截取与电性量测快速切换改善模组，包括测试机测试程序驱动模块，所述测试机测试程序驱动模块与交换界面模块连接，且交换界面模块上设置有继电器，所述继电器分别与电性量测模块和影像解码与传输通道模块连接，且电性量测模块和影像解码与传输通道模块分别与测试机测试程序驱动模块连接。

作为本实用新型一种优选的技术方案，所述影像解码与传输通道模块还与影像功能结果储存模块连接。

作为本实用新型一种优选的技术方案，所述继电器上设置有信号通路开关一和信号通路开关二。

作为本实用新型一种优选的技术方案，所述信号通路开关一与电性量测模块连接，所述信号通路开关二与影像解码与传输通道模块连接。

作为本实用新型一种优选的技术方案，所述测试机测试程序驱动模块还设置有输出信号端和输入信号端。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：1)通过将电性与图像分开处理,再通过程式控制交换界面模块的元件来切换电性与图像量测，有效解决了以往将电性测量与影像截取所需要的元件整合在一块PCB板上，导致板卡元件线路复杂的问题，降低了成本；2)由于将电性与图像分开处理,在做过电性测量后,藉由交换界面模块来进行切换,将好的芯片做图像截取,坏的就跳过图像截取,能够显著提高测试速度和效率。

附图说明

图1为本实用新型的模块流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。