[实用新型]一种测量装置有效

专利信息
申请号: 201921839257.0 申请日: 2019-10-29
公开(公告)号: CN210689530U 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 刘敬伟;仝飞;马盼盼 申请(专利权)人: 国科光芯(海宁)科技股份有限公司
主分类号: G01B11/08 分类号: G01B11/08
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 贾晓燕
地址: 314400 浙江省嘉兴市海宁*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种测量装置,其特征在于,所述测量装置用于测量透镜的物理参数,包括:

基座;

至少一个承载板,所述承载板固定待测量透镜;

测试单元,其包括控制器以及与其电连接的光源发出单元和光源接收单元,所述控制器用于接收以及处理自所述光源接收单元输送的光源信号;

光源反射板,用于将所述光源发出单元发射出的光源反射至所述光源接收单元;

所述待测量透镜安装在所述测试单元和所述光源反射板之间;

以及至少一个移动组件,所述移动组件与所述基座连接,所述承载板和/或所述测试单元安装于所述移动组件上。

2.根据权利要求1所述的一种测量装置,其特征在于,所述测试单元还包括安装板,所述控制器通过所述安装板固定于所述移动组件上。

3.根据权利要求2所述的一种测量装置,其特征在于,所述待测量透镜为聚焦透镜。

4.根据权利要求3所述的一种测量装置,其特征在于,所述聚焦透镜设置在所述光源接收单元与所述光源反射板之间,通过调整所述移动组件与光源接收单元的相对靠近与远离,以调整所述聚焦透镜与所述光源接收单元的相对距离,测得所述聚焦透镜的装配容差。

5.根据权利要求3所述的一种测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括能够控制所述光源接收单元接收到的光源量的光束直径变化件,所述光束直径变化件设置在所述聚焦透镜和所述光源反射板之间,其固定于所述基座上,用于测量所述聚焦透镜的直径。

6.根据权利要求5所述的一种测量装置,其特征在于,所述光束直径变化件为可变光阑或扩束镜,所述聚焦透镜与所述可变光阑或所述扩束镜对应设置,通过改变所述可变光阑或所述扩束镜的孔径大小,控制进入所述聚焦透镜的光束直径,以改变所述光源接收单元接收并输送给所述控制器的光源量。

7.根据权利要求2所述的一种测量装置,其特征在于,所述待测量透镜为准直透镜,所述测量装置用于测量所述准直透镜的装配容差。

8.根据权利要求7所述的一种测量装置,其特征在于,所述测量装置还包括光源聚焦件,所述光源聚焦件固定于所述移动组件上,所述准直透镜设置在所述光源发出单元与所述光源反射板之间,所述准直透镜与所述光源发出单元对应设置,所述光源聚焦件设置在所述光源接收单元和所述光源反射板之间,所述光源聚焦件与所述光源接收单元对应设置,用于测量所述准直透镜的装配容差。

9.根据权利要求8所述的一种测量装置,其特征在于,所述光源聚焦件为光源聚焦透镜,所述准直透镜设置在所述光源聚焦透镜的上侧。

10.根据权利要求9所述的一种测量装置,其特征在于,所述光源聚焦透镜固定于所述移动组件上。

11.根据权利要求1-10任一项所述的一种测量装置,其特征在于,所述移动组件为多维移动架,所述多维移动架在所述基座的水平和竖直的平面上转移位置。

12.根据权利要求10所述的一种测量装置,其特征在于,所述光源发出单元为VCSEL发射器、边发射激光器或LED的一种,所述光源接收单元为雪崩光电二极管芯片、PIN芯片以及CMOS芯片的一种。

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