[实用新型]一种自动测试支架有效

专利信息
申请号: 201921828235.4 申请日: 2019-10-29
公开(公告)号: CN211179894U 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 孙军超;于东波;吴卫卫 申请(专利权)人: 郑州轨道交通信息技术研究院
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R31/00
代理公司: 郑州浩德知识产权代理事务所(普通合伙) 41130 代理人: 边鹏
地址: 450001 河南省郑州市*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 自动 测试 支架
【说明书】:

本实用新型提出了一种自动测试支架,包括底座,立板通过螺钉与底座连接固定,支撑板下部固定在底座上,其前部还与立板固定,在立板的前侧设置有固定安装的气缸、卡块和导轨,卡块位于气缸的上方,在卡块上还设有油压缓冲器,油压缓冲器通过自带螺母安装在卡块上,在气缸的活塞杆端部安装有连接螺母,连接螺母还与滑块安装板连接,滑块通过螺钉与滑块安装板连接后与导轨配合安装,在滑块安装板上还设有筋板、测试装置安装板,测试装置安装板安装两块筋板之间。其有益效果是:本实用新型通过设置定位销解决测试装置定位不精确的问题,确保测试探针能够平稳、精确的与待测产品的测试触点接触,极大地提高测试设备的良率,改进测试设备的效率。

技术领域

本实用新型涉及电子产品的自动测试设备,特别是指一种自动测试支架。

背景技术

MEMS产品,质量较轻,尺寸较小,常见的MEMS产品尺寸一般都在3mm×3mm×1.5mm,甚至更小。目前的不良品检测方式是通过安装在测试支架上的测试装置对摆放在测试冶具上的待测产品进行检测,测试过程中测试装置需下压使测试探针接触待测产品的测试触点。

由于测试探针及MEMS产品的测试触点尺寸微小,目前的测试支架在测试装置下压过程中存在以下问题:测试探针下压速度过快与待测产品产生撞击导致探针松动、失效等问题;测试装置定位不精确,探针无法精确接触测试触点。此类问题会严重影响测试效率。

实用新型内容

本实用新型为解决现有技术中存在的问题,提供一种自动测试支架,可以很好解决探针撞击待测产品以及测试装置定位不准的问题,提高测试设备的良率,极大改进测试效率。

本实用新型的技术方案是这样实现的:

一种自动测试支架,包括底座、立板、支撑板,所述立板通过螺钉与所述底座连接固定,所述支撑板下部固定在所述底座上,其前部还与所述立板固定,在所述立板的前侧设置有固定安装的气缸、卡块和导轨,所述卡块位于所述气缸的上方,在所述卡块上还设有油压缓冲器,所述油压缓冲器通过自带螺母安装在所述卡块上,在所述气缸的活塞杆端部安装有连接螺母,所述连接螺母还与滑块安装板连接,滑块通过螺钉与所述滑块安装板连接后与所述导轨配合安装,在所述滑块安装板上还设有筋板、测试装置安装板,所述测试装置安装板安装两块所述筋板之间,在所述测试装置安装板上安装有所述测试装置,在所述测试装置安装板上开设有销孔,在所述销孔内安装有定位销,在所述测试装置安装板的下侧还设有检测探针,所述检测探针与所述测试装置连接。

进一步,所述定位销为两个,两个所述定位销轴对称安装在所述测试装置安装板的下侧,在所述定位销的下端设置圆角。

本实用新型的有益效果是:本实用新型专利提供一种测试支架,可以通过油压缓冲器的安装很好的解决探针撞击待测产品的问题,通过设置定位销解决测试装置定位不精确的问题,确保测试探针能够平稳、精确的与待测产品的测试触点接触,极大地提高测试设备的良率,改进测试设备的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的结构示意图;

图2为本实用新型的主视图;

图3为本实用新型的俯视图;

图4为本实用新型的侧视图;

图5为本实用新型应用的示意图。

具体实施方式

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