[实用新型]红外测温装置及电磁灶有效

专利信息
申请号: 201921805646.1 申请日: 2019-10-24
公开(公告)号: CN211600811U 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 任富佳;管兴勇;李敬;黄明春;柳发威 申请(专利权)人: 杭州老板电器股份有限公司
主分类号: F24C7/08 分类号: F24C7/08;F24C7/06;F24C15/00
代理公司: 北京超成律师事务所 11646 代理人: 刘静
地址: 310000 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 红外 测温 装置 电磁灶
【权利要求书】:

1.一种红外测温装置,其特征在于,所述红外测温装置包括测温组件以及设置在所述测温组件外部的屏蔽外壳;其中,所述测温组件包括铟镓砷探测器、探测器保护壳和信号处理电路板;

所述铟镓砷探测器设置在所述探测器保护壳内部,且,与所述信号处理电路板连接;所述信号处理电路板用于与外部主控板连接;

所述探测器保护壳包括透光部,所述铟镓砷探测器通过所述透光部探测指定区域的温度信号;

所述信号处理电路板用于获取所述温度信号,并向所述外部主控板发送与所述温度信号对应的电信号,以对所述指定区域进行温度探测。

2.根据权利要求1所述的红外测温装置,其特征在于,所述透光部设置有滤光片,用于对进入到所述铟镓砷探测器的光线进行滤光处理。

3.根据权利要求2所述的红外测温装置,其特征在于,所述探测器保护壳包括底座、支架以及保护盖,所述透光部设置在所述保护盖上;

所述底座与所述信号处理电路板可拆卸连接;

所述铟镓砷探测器设置在所述底座上,所述滤光片设置在所述支架上;

所述底座、所述支架以及所述保护盖依次安装,以将所述铟镓砷探测器固定在所述信号处理电路板上。

4.根据权利要求3所述的红外测温装置,其特征在于,所述铟镓砷探测器的光谱响应范围为0.9um~1.7um。

5.根据权利要求3所述的红外测温装置,其特征在于,所述滤光片的截止区波段范围为0.75um~0.9um,高透区波段范围为1.25um~1.7um。

6.根据权利要求3所述的红外测温装置,其特征在于,所述探测器保护壳的材质为不透光的塑料。

7.根据权利要求1所述的红外测温装置,其特征在于,所述屏蔽外壳包括屏蔽上盖和屏蔽底座,所述屏蔽上盖和所述屏蔽底座可拆卸连接;

所述信号处理电路板设置在所述屏蔽底座上。

8.一种电磁灶,其特征在于,所述电磁灶包括上述权利要求1-7任一项所述的红外测温装置;

所述红外测温装置与所述电磁灶的控制系统连接。

9.根据权利要求8所述的电磁灶,其特征在于,所述电磁灶还包括微晶面板和线圈盘;

所述线圈盘设置在所述微晶面板的下方,所述红外测温装置固定在所述线圈盘各加热区域的间隙内。

10.根据权利要求9所述的电磁灶,其特征在于,所述微晶面板上设置有测温透视区,所述测温透视区的波段范围为0.7um~2.7um。

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