[实用新型]一种弯曲测试治具

说明书

本实用新型公开了一种弯曲测试治具，包括底座、位于底座两端并向上延伸的两个支架、安装在底座上的定位块、下压块；支架上具有承载测试板的承载面，通过支架承载被测的测试板，再通过下压块下压测试板即可完成测试。测试的弯曲变量通过定位块与承载面之间的高度关系实现。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件测试治具的技术领域。

背景技术

贴片式电子元器件可靠性测试中有要求对产品进行弯曲测试，需要将产品焊接至标准测试板上，然后将测试板弯折至规定型变量并保持一定时间，确认产品特性变化有无超出标准规定；目前市面并无通用设备进行该项测试。

故，需要一种新的技术方案以解决上述问题。

发明内容

发明目的：本实用新型提供一种可以用于贴片式电子元器件弯曲测试的测试治具，并具有操作便捷，低制造成本的优点。

技术方案：为达到上述目的，本发明弯曲测试治具可采用如下技术方案：

一种弯曲测试治具，包括底座、位于底座两端并向上延伸的两个支架、安装在底座上的定位块、下压块；所述两个支架之间为中空的空间，定位块位于该中空的空间内；支架上具有承载被测物的承载面，所述定位块的顶部低于该承载面。

有益效果：本实用新型提供一种结构简单、支座成本低的测试治具。通过支架承载被测的测试板，再通过下压块下压测试板即可完成测试。测试的弯曲变量通过定位块与承载面之间的高度关系实现。

附图说明

图1是实施例一中的弯曲测试治具的立体图。

图2是实施例一中的底座及支架的立体图。

图3是实施例一中的定位块的立体图。

图4是实施例一中将被测板放置到支架上将要测试的示意图。

图5是实施例一中被测板被下压块按压测试的示意图。

图6是实施例二中底座部分的示意图。

图7是实施例二中支架安装在底座上的示意图。

具体实施方式

实施例一

请结合图1至图3所示，本实施例公开一种弯曲测试治具，包括底座1、位于底座1两端并向上延伸的两个支架2、安装在底座1上的定位块3，以及通过上下移动装置(未图示)而移动下压块4。所述两个支架2之间为中空的空间，定位块3位于该中空的空间内。所述底座1的两个侧面设有向内凹的凹槽11，所述定位块3的底部安装在该凹槽11内。定位块3的顶部向上延伸至两个支架2之间。支架2上具有承载测试板5的承载面21。所述支架2的顶端设有阶梯型承载位，所述承载面21即该阶梯型承载位较低的阶梯面。而该阶梯面的外侧的阶梯部位作为被测物的横向定位。所述定位块3的顶部低于该承载面21，即定位块3与承载面21之间形成了弯曲变量的下压空间，该定位块3与承载面21之间的高度差h即可换算为弯曲变量。而由于定位块3可以自凹槽11拆卸，故不同高度的定位块可以用以测试不同弯曲变量要求的测试板。为保证受力后稳定性，以上治具制作材质为不锈钢。

如图4及图5所示，上下移动装置能够带动下压块4下压被测物以使测试板5弯曲，直至测试板5的底部与定位块3接触，到达弯曲最大值，使测试板弯曲至预设尺寸。所述下压块4的底部为弧面，将下压块4下压时对测试板5伤害降低。本实施方式中，上下移动装置可选择现有技术中常用的启动或者液压杆，或者选用丝杆、涡轮蜗杆移动装置等。所述下压块4安装在该上下移动装置上并位于定位块3正上方，下压块4通过上下移动装置向定位块3移动或远离定位块3。

实施例二