[实用新型]一种老化测试装置有效
| 申请号: | 201921732281.4 | 申请日: | 2019-10-16 |
| 公开(公告)号: | CN210627915U | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
| 发明(设计)人: | 曹佶;赵宝忠 | 申请(专利权)人: | 杭州可靠性仪器厂 |
| 主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 310016 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 老化 测试 装置 | ||
1.一种老化测试装置,其特征在于:包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件,以及用于装载待测存储器的老化组件,所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接,所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接;
所述老化组件包括烘箱和多个间隔设置的老化板,所述老化板设置在所述烘箱内,所述信息驱动组件包括多个用于驱动测试信息的驱动板和用于连接多根信息线的高频连接器,所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板电性连接。
2.根据权利要求1所述的老化测试装置,其特征在于:所述高频连接器为SEAM连接器。
3.根据权利要求1所述的老化测试装置,其特征在于:所述驱动板为高频基板SH260,所述驱动板设置有256路I/O信号通道。
4.根据权利要求3所述的老化测试装置,其特征在于:所述信息驱动组件还包括嵌入式控制单元,所述嵌入式控制单元包括接收老化测试信息的ARM9TDMI芯片,所述ARM9TDMI芯片与所述I/O信号通道电性连接。
5.根据权利要求4所述的老化测试装置,其特征在于:所述信息驱动组件还包括多个用于生成图形测试信号并检测图形测试信号的图形发生与检测单元,所述图形发生与检测单元包括FPGA主控模块,所述FPGA主控模块与所述嵌入式控制单元信号连接。
6.根据权利要求1所述的老化测试装置,其特征在于:所述上位机控制组件包括数据库模块、代码编辑模块、网络通信模块、老化控制模块和参数编辑模块,所述代码编辑模块、所述网络通信模块、所述老化控制模块和所述参数编辑模块分别与所述数据库模块信号连接,所述通信组件、所述参数编辑模块和所述老化控制模块分别与所述网络通信模块信号连接。
7.根据权利要求6所述的老化测试装置,其特征在于:所述上位机控制组件还包括人机交互界面,所述数据库模块、所述代码编辑模块和所述参数编辑模块分别与所述人机交互界面信号连接。
8.根据权利要求1所述的老化测试装置,其特征在于:所述通信组件包括64口的交换式1000M集线器。
9.根据权利要求1所述的老化测试装置,其特征在于:所述老化测试装置还包括第一柜体,所述上位机控制组件和所述电源系统均设置在所述第一柜体内。
10.根据权利要求1所述的老化测试装置,其特征在于:所述老化测试装置还包括第二柜体,所述第二柜体与所述烘箱连接,所述信息驱动组件设置在所述第二柜体内。
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