[实用新型]导电片及测试治具

说明书

本申请提供了一种导电片及测试治具，其中，导电片包括基板和多个导电缓冲部。多个导电缓冲部设置在基板上，且多个导电缓冲部彼此间隔绝缘设置，导电缓冲部贯穿基板。导电缓冲部用于与测试治具的第一导电端子连接。本申请提供的技术方案，导电缓冲部能够将治具的第一导电端子与待测产品电连接，另外，导电缓冲部具有缓冲作用，避免了第一导电端子与待测产品直接接触，降低了第一导电端子在组装过程中所受到的待测产品给予的冲击力，从而降低了第一导电端子被待测产品压坏的概率，进而延长了测试治具的使用寿命，降低了测试治具的成本，增加了产品的市场竞争力。

技术领域

本申请涉及测试领域，具体而言，涉及一种导电片及测试治具。

背景技术

本申请对于背景技术的描述属于与本申请相关的相关技术，仅仅是用于说明和便于理解本申请的申请内容，不应理解为申请人明确认为或推定申请人认为是本申请在首次提出申请的申请日的现有技术。

目前，电子产品在出厂之前，都需要经过测试。传统的测试方法为：将电子产品摆放在测试台上，再将电子产品的排线与测试接口直接连接，即可进行测试。测试接口一般为探针或者连接器，由于排线与探针或者连接器直接接触的方式，容易导致探针或者连接器的损坏，导致治具成本提升。

实用新型内容

本申请第一方面的实施例提供了一种导电片，用于测试治具，包括基板和个导电缓冲部，多个所述导电缓冲部彼此间隔绝缘设置，所述导电缓冲部贯穿所述基板，所述导电缓冲部用于与所述测试治具的第一导电端子连接。

本申请提供的导电片，贯穿基板的导电缓冲部能够将位于基板两侧测试治具的第一导电端子与待测产品电连接，另外，导电缓冲部具有缓冲作用，避免了位于导电片两侧的第一导电端子与待测产品直接接触，降低了第一导电端子在组装过程中所受到的待测产品给予的冲击力，从而降低了第一导电端子被待测产品压坏的概率，进而延长了测试治具的使用寿命，降低了测试治具的成本，增加了产品的市场竞争力。

可选地，导电片还包括：绝缘缓冲部，所述绝缘缓冲部设置在所述基板上，用于支撑所述基板。

可选地，所述绝缘缓冲部为缓冲环，所述缓冲环沿多个所述导电缓冲部构成区域的周向设置。

可选地，所述基板上设置有定位部，所述定位部用于与所述测试治具的定位安装。

可选地，所述基板为弹性板。

可选地，所述基板为透明板。

可选地，所述导电缓冲部的数量与所述第一导电端子的数量相同，且所述导电缓冲部的尺寸小于或等于与所述导电缓冲部连接的所述第一导电端子的尺寸。

可选地，所述导电缓冲部的形状与所述第一导电端子的形状相同，且所述导电缓冲部的尺寸与所述导电缓冲部连接的所述第一导电端子的尺寸相同。

本申请第二方面的实施例提供了一种测试治具，用于检测待测产品，包括：测试排线，所述测试排线的一端设置有多个第一导电端子；以及上述任一项所述的导电片，所述导电片中的任一导电缓冲部至多与一个所述第一导电端子连接；所述导电片用于将所述待测产品的多个第二导电端子与所述多个第一导电端子电连接。

本申请提供的测试治具，导电片位于多个第一导电端子与待测产品的多个第二导电端子之间，导电缓冲部起到了缓冲作用，避免了第一导电端子与第二导电端子直接接触，降低了第一导电端子在组装过程中所受到的第二导电端子给予的冲击力，从而降低了第一导电端子被第二导电端子压坏的概率，进而延长了测试治具的使用寿命，增加了产品的市场竞争力。

本申请第三方面的实施例提供了一种测试治具，用于检测待测产品，包括：测试排线，所述测试排线设置有多个第一导电端子；以及多个导电缓冲部，多个所述导电缓冲部设置在多个所述第一导电端子上，任一所述导电缓冲部至多与一个所述第一导电端子连接，所述导电缓冲部用于将所述待测产品的多个第二导电端子与所述多个第一导电端子电连接。