[实用新型]一种测试探针装置

说明书

本实用新型公开了一种测试探针装置，包括装置主体，所述装置主体外端表面设置有凸点，所述装置主体上端中间位置开设有一号滑轨，两组所述一号滑轨之间设置有滑杆，所述滑杆上固定安装有一号滑环，所述装置主体上端靠近左侧边缘开设有二号滑轨，所述二号滑轨上设置有滑块，所述滑块上固定安装有二号滑环；本实用新型通过设置二号滑环，起到很好的保护探针头的作用，同时设置一号滑环，配合滑杆，能够迅速的切换不同类型的探针头，以便应对不同的被测试点，通过设置均匀分布的凸点，能够方便工作人员的使用，避免装置在使用过程中滑落，设置插块与柱体，能够更加方便的拆卸更换探针头，同时设置二号弹簧，避免探针头接触过激而造成损害。

技术领域

本实用新型属于测试探针技术领域，具体是一种测试探针装置。

背景技术

接触式测试装置用于印刷电路板和电子元件等电气检查，该装置使用具有导电性的测试探针以及支撑测试探针并使其能沿轴向自由活动的夹具，为使探针的突出端能向夹具的轴向一端探出而用弹簧对其赋能，从而使探针弹出与检查对象的待测组件接触。现阶段，探针多作为集成电路芯片和测试仪器之间的媒介，探针通过和待测组件接触并将所探测信号传送至测试仪器而得知待测组件是否为良品，目前市场上的测试探针不具备保护探针头的作用，很容易损坏，而且一种测试探针只能对应一种测试点，为解决不足之处，需要对测试装置改进；

现有的测试探针装置在使用时还存在一定的弊端，现有的测试探针装置结构比较简单，一个测试探针装置只能测试一种被测试点，不能灵活的应对不同的测试点，再拿取其他测试探针比较麻烦而又浪费时间，并且现有的测试探针装置在不使用时，探针头通常处于裸露状态，没有外壳保护装置保护，也没有缓冲减震装置，长时间影响探针头的使用寿命，也没有很好的防止装置使用时脱落的措施，为了解决上述缺陷，现提供一种解决方案。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试探针装置，主要解决以下问题：

1)通过设置二号滑环，能够在探针头不用时，遮盖住针型探针头与碗状探针头，起到很好的保护探针头的作用，同时设置一号滑环，配合滑杆，能够迅速切换不同类型的探针头，以便应对不同的被测试点，解决了现有的测试探针装置没有很好的保护探针头与迅速切换不同类型探针头的作用的技术问题。

2)通过设置均匀分布的凸点，能够很增加与手摩擦力的作用，方便工作人员的使用，避免在使用过程中滑落，设置插块与柱体，能够更加方便的拆卸更换探针头，同时设置二号弹簧，避免探针头接触过激造成损害，解决了现有的测试探针装置没有很好的防止脱落与便于更换拆卸探针头的装置以及缓冲减震的效果的技术问题。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：

一种测试探针装置，包括装置主体，所述装置主体外端表面设置有凸点，所述装置主体上端中间位置开设有一号滑轨，两组所述一号滑轨之间设置有滑杆，所述滑杆上固定安装有一号滑环，所述装置主体上端靠近左侧边缘开设有二号滑轨，所述二号滑轨上设置有滑块，所述滑块上固定安装有二号滑环；

所述滑杆上固定安装有检测元件，所述检测元件两侧均安装有弹簧筒，两组所述弹簧筒上固定安装有支撑柱，两组所述弹簧筒内部均设置有一号弹簧，所述装置主体内部两侧均安装有柱体，两组所述柱体上均设置有插块，两组所述插块上均固定连接有二号弹簧，两组所述二号弹簧上均固定连接有固定块。

作为本实用新型的进一步方案，两组所述固定块上分别固定安装有针型探针头与碗状探针头，所述针型探针头与碗状探针头的规格一致。

作为本实用新型的进一步方案，所述凸点均匀分布在装置主体的外端表面，所述一号滑环与二号滑环均与装置主体外端表面相接触。

作为本实用新型的进一步方案，所述一号滑环通过滑杆配合一号滑轨活动安装在装置主体外端表面，所述二号滑环通过滑块配合二号滑轨活动安装在装置主体外端表面。