[实用新型]用于微控制器参数校准的烧录器

说明书

本实用新型涉及一种用于微控制器参数校准的烧录器，该烧录器分别与PC和微控制器MCU连接，所述的烧录器包括主控芯片、第一通信电路、第二通信电路、D触发器、存储器、基准电压输入接口、参考电源和LDO电源，所述的主控芯片分别与第一通信电路、第二通信电路、D触发器、存储器、基准电压输入接口、参考电源和LDO电源连接，所述的第一通信电路与PC连接，所述的第二通信电路、D触发器和基准电压输入接口分别与微控制器MCU连接。与现有技术相比，本实用新型具有提供更高的校准精度、缩短开发生产周期等优点。

技术领域

本实用新型涉及一种用于微控制器的烧录技术，尤其是涉及一种用于微控制器参数校准的烧录器。

背景技术

微控制器(MCU)芯片从生产到制成成品销售需要经过以下几个环节，一、晶圆制造(Wafer Fab)。二、晶圆测试(Wafer Probe)。三、封装和封装测试(AssemblyTest)。

在Wafer Probe阶段，需要对芯片的管脚开短路、低功耗、频率和基准电压等参数进行测试，剔除其中的不良品。

在AssemblyTest阶段，需要对芯片的频率和基准电压参数再次进行测试，调修到标准范围内，将参数写入芯片的信息区，这样才能保证芯片正常使用。在该阶段对芯片频率和基准电压参数进行校准有以下缺陷，

测试精度和良率不理想：受测试机性能限制，无法将参数调修到最优值，测试精度差强人意。同时由于这种测试方式，导致芯片良率降低。

客户端使用存在限制：客户端出于成本考虑，会使用COB绑定，则原厂提供晶圆给客户，客户需要自己去校准参数。或者客户由于方案限制，需要修改芯片频率、基准电压参数。

在这种情况下，无法返厂重新调整参数。只能通过其他途径修改参数，为客户生产开发带来极大的不便。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种可以提供更高的校准精度的用于微控制器参数校准的烧录器。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种用于微控制器参数校准的烧录器，该烧录器分别与PC和微控制器MCU连接，所述的烧录器包括主控芯片、第一通信电路、第二通信电路、D触发器、存储器、基准电压输入接口、参考电源和LDO电源，所述的主控芯片分别与第一通信电路、第二通信电路、D触发器、存储器、基准电压输入接口、参考电源和LDO电源连接，所述的第一通信电路与PC连接，所述的第二通信电路、D触发器和基准电压输入接口分别与微控制器MCU连接。

优选地，所述的第一通信电路为USB Type-B数据线。

优选地，所述的存储器为flash存储器。

优选地，所述的参考电源为TL431基准电源。

优选地，所述的烧录器还包括与主控芯片连接的LED指示灯。

优选地，所述的烧录器还包括与主控芯片连接的按键。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：

1)通过烧录器的D触发器和基准电压输入接口等实现微控制器的频率和基准电压校准，由于烧录器控制灵活，因此可以提供更高的校准精度，提高产品性能；

2)将烧录功能和校准功能集成到烧录器上，更能满足用户实际应用需求，缩短开发生产周期。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式