[实用新型]一种顶出式的键帽检测装置

说明书

本实用新型公开了一种顶出式的键帽检测装置，其包括从键帽背面将键帽向外顶出设定距离的顶出杆、检测所述顶出杆受到键帽反作用力大小的压力传感器、驱动所述压力传感器在Z轴上进行运动的Z轴驱动件。本实用新型检测效率高，结构简单。

【技术领域】

本实用新型属于键帽检测技术领域，特别是涉及一种顶出式的键帽检测装置。

【背景技术】

键盘一般是由铝基板、线路板、剪刀支撑架和键帽组装而成的，目前已知的造成键盘键帽弹力或拉拔力不良的主要原因有：1)来料不良，例如铝基板卡勾变形、剪刀支撑架中轴断裂或内外剪刀配装键帽结构处缺料和崩塌、键帽的四角与内外剪刀配装处(即书面名为水滴孔和滑槽结构)存在不良；2)装配不良，例如在组装的过程中由于人为或组装的机械设备不良损坏了键盘或键帽结构。以上两点造成键盘键帽弹力或拉拔力不足或没有弹力的主要原因，将直接导致键盘做成成品后会严重影响键盘的使用寿命和使用的机械手感。所以键帽安装到键盘上后，为了确保后续使用的可靠性，需要对键盘键帽组装后的拉拔力进行测试。

本公司早在2013年就开始研发键盘的组装检测的自动化设备，关于键帽拉拔测试设备，本公司已申请的专利号为201510726534.7公开了一种键帽拉拔力测试用按压模组及键帽拉拔力测试机，其在移载模组活动端设置有若干与一排键帽一一对应的且具有压力感应功能的拉钩块，通过拉钩块拉住键帽上抬实现对键帽拉拔力的测试。随着本公司的研发，又申请了专利号为 201810262493.4的一种键帽结构组装不良测试机，在实际使用过程中，发现该设备的检测结果的准确度有时候不是很稳定，且检测头组件模块的整体结构有点复杂，结构数量较多，不够精简。

之后，本公司又在2018年12月25日申请了专利号为CN201822184926.7的专利，公开了一种检测效率高的全自动键帽拉拔测试装置，其采用压力传感器拉拔测试头，并在压力传感器拉拔测试头的前后设置滚轮压住键盘表面，保障拉拔测试结果的精准度，虽然解决了上述技术问题，但随着市场需求越来越多，需要进行测试的键盘种类也逐渐增多。在该专利技术中，被检测的键盘需要有一条畅通的通槽供滚轮行走，但有的键盘的按键的尺寸大小以及分布有一些个性化设计，有的个别键帽会伸入至相邻两排键帽之间的缝隙空间中，不具备畅通的通槽条件，因此，采用原有的检测装置无法满足。

且上述所有的检测结构均是采用拉拔块将键帽向上抬起，采用压制结构将键盘表面压紧，机械手活动端设置有XYZ三轴驱动，其负载较大，活动端上部结构较为冗杂。

因此，有必要提供一种新的顶出式的键帽检测装置来解决上述问题。

【实用新型内容】

本实用新型的主要目的在于提供一种采用顶出键帽的方式来获取键帽反作用力、结构简单且检测效率高的键帽检测装置。

本实用新型通过如下技术方案实现上述目的：一种顶出式的键帽检测装置，其包括从键帽背面将键帽向外顶出设定距离的顶出杆、检测所述顶出杆受到键帽反作用力大小的压力传感器。

进一步的，所述顶出杆设置有若干个且与待检测的键帽对应设置；或所述顶出杆根据待检测键帽上的设计待测点进行分布设置。

进一步的，所有的所述顶出杆上下可活动的设置在一个支撑板上。

进一步的，所述顶出杆的上端设置有环形凸起，用于架设在所述支撑板上不会掉落。

进一步的，所述压力传感器的感应端设置有一安装支架，所述安装支架上设置有将所述顶出杆向下按压的按压件。

进一步的，所述按压件为滚轮或带有导向斜面的压板。

进一步的，在检测时，所述支撑板压紧在键盘表面起到稳定键盘的作用，此时，键帽的背面支撑着所述顶出杆的底端且将所述顶出杆的上表面顶出一个高度，该高度大于需要将键帽顶出的设定距离。