[实用新型]一种芯片检测装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片检测装置，用于方便地实现对芯片的供电电路的开断操作。该芯片检测装置包括导电载具、第一导电部件、第二导电部件、和升降机构。导电载具用于支撑待测试的芯片和向芯片供电。第一导电部件包括第一接口，第一接口和导电载具电连接。第二导电部件包括第二接口，第二导电部件用于向第二接口提供获取的电能。第二导电部件和升降机构固定连接，升降机构用于控制第二导电部件沿垂直方向移动，以控制第二接口和第一接口抵接和分离。当第二接口和第一接口抵接时，第二接口和第一接口电连接。这样，通过升降机构可控制第二接口和第一接口的抵接和分离状态，方便地实现了对芯片的供电电路的开断操作。

技术领域

本实用新型涉及检测设备领域，尤其涉及一种芯片检测装置。

背景技术

芯片也称为集成电路(Integrated Circuit，IC)，是一种高价值和高精度的零部件，需要对其进行严格的产品检测。在对芯片进行检测时，需要对芯片供电，以检测芯片的工作状态是否异常。

现有的对待检测的芯片进行供电的方式为，将待检测的芯片放置在供电装置上，该供电装置与电源通过导线连接，以从电源获取电能。

但是，这样的供电方式，不能方便地控制供电电路的开断，从而限制了对芯片的检测场景。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片检测装置，用于方便地实现对芯片的供电电路的开断操作。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种芯片检测装置，包括：

导电载具，所述导电载具用于支撑待测试的芯片和向所述芯片供电；

第一导电部件，所述第一导电部件包括第一接口，所述第一接口和所述导电载具电连接；

第二导电部件，所述第二导电部件包括第二接口，所述第二接口位于所述第一接口的下方，所述第二导电部件用于向所述第二接口提供获取的电能；

升降机构，所述第二导电部件和所述升降机构固定连接，所述升降机构用于控制所述第二导电部件沿垂直方向移动，以控制所述第二接口和所述第一接口抵接和分离；

当所述第二接口和所述第一接口抵接时，所述第二接口和所述第一接口电连接。

可选地，所述第一导电部件为PCB转接板，所述第一接口为触片结构的部件。

可选地，所述第二导电部件为包括探针的PCB部件，所述第二接口为所述探针的端面。

可选地，所述升降机构包括支撑座、滑动部件、丝杆和电机；

所述滑动部件设有通孔，所述丝杆和所述滑动部件的通孔螺纹连接，所述丝杆和所述电机的输出轴固定连接，所述第二导电部件和所述滑动部件固定连接，所述滑动部件和所述支撑座沿垂直方向滑动连接。

可选地，所述支撑座设有引导轨道，所述引导轨道沿垂直方向延伸；

所述滑动部件设有滑槽，所述滑槽沿垂直方向延伸；

所述滑槽和所述引导轨道滑动连接。

可选地，所述引导轨道包括间隔设置的第一引导轨道和第二引导轨道；

所述滑动部件在相背的两侧面分别设有一所述滑槽，一所述滑槽和所述第一引导轨道滑动连接，另一所述滑槽和所述第二引导轨道滑动连接。

可选地，所述芯片检测装置还包括载具平台和容置部件，所述容置部件设置在所述载具平台上，所述导电载具设置在所述载具平台上；

所述容置部件包括中空的容置腔，所述容置部件位于所述导电载具的上方，所述容置腔的底部为所述导电载具的表面；