[实用新型]一种具有多个结的半导体基核电池有效

专利信息
申请号: 201921642308.0 申请日: 2019-09-29
公开(公告)号: CN211455324U 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: 韩天宇;张玲玲 申请(专利权)人: 无锡华普微电子有限公司
主分类号: G21H1/06 分类号: G21H1/06
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 殷红梅
地址: 214135 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 多个结 半导体 核电
【权利要求书】:

1.一种具有多个结的半导体基核电池,其特征在于,所述具有多个结的半导体基核电池包括:N型半导体衬底层(100),在所述N型半导体衬底层(100)的上表面从下至上依次设有第一N型半导体层(110)、第二N型半导体层(120)、半导体本征层(130)、第三N型半导体层(140)、第四N型半导体层(150)和P型半导体层(160);

所述P型半导体层(160)的周围和第二N型半导体层的上表面之间设有钝化保护层(200),所述P型半导体层(160)上设有阳极金属层(300),所述阳极金属层(300)、P型半导体层(160)和钝化保护层(200)上设有放射性同位素层(500),所述阳极金属层(300)和P型半导体层(160)之间欧姆接触;

所述N型半导体衬底层(100)的下表面上设有阴极金属层(400),所述阴极金属层(400)与N型半导体衬底层(100)之间欧姆接触。

2.如权利要求1所述的具有多个结的半导体基核电池,其特征在于,所述第一N型半导体层包括从下至上设置的:第一掺杂浓度N型半导体层和第二掺杂浓度N型半导体层;

所述第二N型半导体层包括从下至上设置的:第三掺杂浓度N型半导体层和第四掺杂浓度N型半导体层。

3.如权利要求1所述的具有多个结的半导体基核电池,其特征在于,所述P型半导体层(160)的厚度为0.2μm~0.5μm。

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