[实用新型]一种可重复使用的高通量型太赫兹超材料快速检测装置

权利要求书

1.一种可重复使用的高通量型太赫兹超材料快速检测装置，其特征在于：包括

底座和超材料芯片；

所述底座上设置有定位槽；所述超材料芯片以可活动的方式设置于定位槽中；

所述超材料芯片上设置有用于放置待检测物的若干检测区域；

所述底座上设置有透光孔，所述透光孔与超材料芯片上检测区域匹配，以适于太赫兹波和超材料芯片检测区域上的待检测物相互作用。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于：所述定位槽与超材料芯片之间设置有磁性材料层，以适于超材料芯片在所述定位槽中通过磁力吸引来实现芯片的定位，所述磁性材料层包括分别设置于定位槽的第一磁性材料层和设置于超材料芯片上的第二磁性材料层，所述第一磁性材料层和第二磁性材料层之间能够产生磁力。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于：还包括载具，所述载具以活动方式设置于底座上；所述超材料芯片设置于载具上。

4.如权利要求3所述的装置，其特征在于：所述载具下方设置有定位轴，所述定位轴与所述底座上设置的凹槽配合，所述定位轴与凹槽被设置为可移动的方式连接，以适于太赫兹波和超材料芯片检测区域上的待检测物相互作用。

5.如权利要求4所述的装置，其特征在于：所述定位轴和凹槽之间设置有能产生磁力的磁性材料层，以适于所述定位轴在定位槽中移动时通过磁力吸引定位方式，从而使得超材料芯片的检测区域始终和太赫兹波的光斑位置重合；

所述底座上设置的定位槽为V型槽，用于确定芯片的位置，所述V型槽包括X向槽和Y向槽；所述X向槽采用设置相互平行的三条X向槽，所述Y向定位槽采用设置相互平行的三条Y向槽。

6.如权利要求3所述的装置，其特征在于：所述载具为移动载具，所述移动载具包括主体、待检部和检测部；所述待检部设置于主体的四周，所述检测部设置于主体中部，所述待检部和检测部之间设置有用于超材料芯片滑动的通道，所述检测部正对于透光孔上方，以适于太赫兹波和超材料芯片的检测部上的待检测物相互作用。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于：所述主体为圆形板，所述待检部沿圆周设置，所述检测部设置于圆心，所述通道为设置于待检部和检测部之间的凹槽，所述超材料芯片与凹槽配合以使得超材料芯片能在凹槽上移动。

8.如权利要求3所述的装置，其特征在于：所述载具为圆形载具，所述圆形载具上设置有阵列式超材料芯片；

所述圆形载具与定位槽之间设置有定位装置，所述定位装置在外力的作用下逐步变换圆形载具的位置，使得阵列式超材料芯片中的每个检测区域位于透光孔处，以适于太赫兹波和超材料芯片对应的检测区域上的待检测物相互作用；

或

所述载具为矩形载具，所述矩形载具上设置有阵列式超材料芯片；

所述矩形载具与定位槽之间设置有定位装置，所述定位装置在外力的作用下逐步变换矩形载具的位置，使得阵列式芯片中的每个检测区域位于透光孔处，以适于太赫兹波和超材料芯片对应的检测区域上的待检测物相互作用；

所述定位装置包括定位孔和定位凸起；

所述定位孔设置于定位槽中，所述定位凸起设置于载具上，所述定位孔和定位凸起配合用于固定载具的位置。

9.如权利要求1所述的装置，其特征在于：还包括设置于芯片上待测物上方的滤过膜，所述滤过膜用于滤过待测物中的溶剂水，以适于待测物沉积到芯片的表面上；

所述滤过膜设置有直径为0.22μm至0.4μm的滤过孔，所述滤过膜采用PVC材料制作；

所述滤过膜用于滤过当直径大于0.5μm的待测物。

10.如权利要求2所述的装置，其特征在于：所述超材料芯片上的待测物中设置有磁珠，所述磁珠用于将直径为小于0.5μm的待测物捕获到磁珠表面，并在设置于超材料芯片下方的磁性材料层的磁力作用下，实现分离待测物和溶剂水，使得待测物沉积于超材料芯片的表面上。