[实用新型]一种射线检测用准直器

说明书

本实用新型公开了一种射线检测用准直器，包括支柱、底台、自聚焦透镜、测线镜孔和螺杆,所述底台的上端面左上角设置有第一底座,第一底座上垂直固定有支柱,且支柱上套置有螺旋套,螺旋套上通过固定螺栓固定有固定架,并且固定架的右部安装有自聚焦透镜，同时底台的右端上端面右下角设置有第二底座。该射线检测用准直器，整体结构设置合理，主要设置有自聚焦透镜和测线镜孔，自聚焦透镜和测线镜孔的高度都方便进行调整，自聚焦透镜通过螺旋套在支柱上可转动活动，螺旋套在支柱上进行上下位移，方便进行改变自聚焦透镜的高低度，而测线镜孔主要是通过滑块的上下活动进行改变高低度，调整方式简单，便于日常操作，方便实用。

技术领域

本实用新型涉及射线检测技术领域，具体为一种射线检测用准直器。

背景技术

X射线准直器的视场测试，在以空间定位为目的的X射线光子探测中，除了来自探测目标的X光子外，其中还掺杂探测器视场内所有方向辐射的进入视场的噪声信号，噪声信号的强弱决定了探测器的信噪比等关键性能参数，需对X射线准直器视场角进行精确的测试，现有技术的射线准直器设置结构比较单一，仅仅是通过单一的探测准直结构进行探测，但对探测准直器射出的射线难以进行比对，使得工作人员不好判断射线的准直度是否存在误差。

为了解决以上所提出的射线准直器所存在的缺陷和不足，急需改善射线准直器的技术，设置双重检测结构，进行先探测再测准，双重检测更有保障，提高检测精度，从而提供一种射线检测用准直器。

实用新型内容

本实用新型解决的技术问题在于克服现有技术的射线准直器设置结构比较单一，仅仅是通过单一的探测准直结构进行探测，但对探测准直器射出的射线难以进行比对，使得工作人员不好判断射线的准直度是否存在误差的缺陷，提供一种射线检测用准直器。所述一种射线检测用准直器具有设置双重检测结构，进行先探测再测准，双重检测更有保障，提高检测精度等特点。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种射线检测用准直器，包括支柱、底台、自聚焦透镜、测线镜孔和螺杆,所述底台的上端面左上角设置有第一底座,第一底座上垂直固定有支柱,且支柱上套置有螺旋套,螺旋套上通过固定螺栓固定有固定架,并且固定架的右部安装有自聚焦透镜，同时底台的右端上端面右下角设置有第二底座，第二底座的上端面侧面设置有背板，所述第二底座的上端面左部设置有两组导杆，且第二底座的上端面右部设置有螺杆，且螺杆和导杆的上端头均套置在顶板上，同时螺杆的上端头设置有旋钮。

优选的，所述支柱的柱身上设置有旋转螺纹，且螺旋套与支柱之间转动连接，并且螺旋套在支柱上可上下活动设置。

优选的，所述两组导杆的套置在同一组滑块内，且滑块在导杆上可上下滑动设置，滑块的左侧面上垂直固定有连接杆,并且连接杆的左端头安装有测线镜孔。

优选的，所述滑块的右部固定有活动块，且活动块套置在螺杆上，并且活动块和滑块的高度始终水平一致。

优选的，所述自聚焦透镜和测线镜孔的中心均位于同一轴线上，且自聚焦透镜和测线镜孔的中心线均与该轴线相重合设置。

优选的，所述螺杆上设置有螺纹，且活动块与螺杆之间可转动连接，并且活动块在滑块上可上下垂直位移。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.该射线检测用准直器，整体结构设置合理，主要设置有自聚焦透镜和测线镜孔，自聚焦透镜和测线镜孔的高度都方便进行调整，聚焦透镜通过螺旋套在支柱上可转动活动，螺旋套在支柱上进行上下位移，方便进行改变聚焦透镜的高低度，而测线镜孔主要是通过滑块的上下活动进行改变高低度，调整方式简单，便于日常操作，方便实用；

2.本设备中测线镜孔的高低度调整结构，滑块在导杆上可进行滑动设置，通过扭动旋钮，使得下面的螺杆进行正向、反向转动，带动活动块上移和下移，使得活动块带动滑块进行上下移动，从而改变测线镜孔的高低度，使用方法简便。