[实用新型]一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具有效

专利信息
申请号: 201921496211.3 申请日: 2019-09-10
公开(公告)号: CN210892915U 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 李刚;陶成;聂平 申请(专利权)人: 中锗科技有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00
代理公司: 南京先科专利代理事务所(普通合伙) 32285 代理人: 缪友菊
地址: 211299 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 圆形 平台 曲面 精密 零件 测量 工具
【说明书】:

本实用新型公开一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具,包括测量基座、连接座、锁紧螺母、若干挡块以及千分表;所述测量基座上设有连接孔,所述连接孔内设有螺纹,所述连接座为内部贯穿结构,其外表面上均设有螺纹,中部沿圆周方向设有隔板,所述连接座的一端旋转于连接孔内,隔板紧贴测量基座表面,所述千分表设置有测头的测杆穿过连接座,测头伸出测量基座,所述测杆上套设有锁紧螺母,所述锁紧螺母旋转于连接座的另一端的螺纹上,将千分表进行锁紧定位;所述测量基座以其中部为圆心,同一直径的圆周线上设有两固定孔,所述固定孔通过螺钉分别固定有挡块。本实用新型的结构简单,测量结果准确。

技术领域

本实用新型属于机械测量工具的技术领域,具体涉及一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具。

背景技术

行业内现有红外激光元件加工圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量装置是与其凸曲面共用测量平台;现有技术中的测量装置包括圆环和V型槽,待测零件为圆形带平台凹曲面等厚零件,设待测零件的凸曲面为A面,凹曲面为B面,则采用现有技术中的测量装置进行测量时,采用圆环(与待测零件A表面边缘接触)与V型槽(与待测零件外圆接触)来定位待测零件B表面边缘与千分表测针垂直在B表面边缘旋转一周的差值来表示;现有的测量装置在测量圆形带平台凹曲面零件时会出现待测零件的A 面B面测量基准面不是同一基准表面(待测零件的平台和外圆)的问题,会导致测量结果出现较大误差,导致测量结果不准确,不能满足加工测量要求。

发明内容

发明目的:本实用新型目的在于针对现有技术的不足,提供一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具。

技术方案:本实用新型所述一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具,包括测量基座、连接座、锁紧螺母、若干挡块以及千分表;所述测量基座上设有连接孔,所述连接孔内设有螺纹,所述连接座为内部贯穿结构,其外表面上均设有螺纹,中部沿圆周方向设有隔板,所述连接座的一端旋转于连接孔内,隔板紧贴测量基座表面,所述千分表设置有测头的测杆穿过连接座,测头伸出测量基座,所述测杆上套设有锁紧螺母,所述锁紧螺母旋转于连接座的另一端的螺纹上,将千分表进行锁紧定位;所述测量基座以其中部为圆心,同一直径的圆周线上设有两固定孔,所述固定孔通过螺钉分别固定有挡块,所述挡块位于测头的外侧,并与测头位于同一侧面上,所述待测零件的凹曲面朝下放置于测量基座上,所述待测零件的平台外圆与挡块紧靠,所述测头与凹曲面表面边缘接触。

优选地,所述测量基座的厚度为10mm的圆形结构,其直径大于待测零件的直径。

优选地,所述千分表为日本三丰0-5mm量程千分表。

优选地,所述挡块与测量基座的连接面为开有长条形孔的板状结构,所述挡块通过螺钉穿过长条形孔与测量基座连接,所述板状结构靠近测头的一端固定有堵头,所述待测零件的平台外圆与堵头紧靠。

优选地,所述连接孔内部成台阶状,其一端的开孔与测头的直径相匹配,另一端的开孔与连接座的外径相匹配,所述连接座的外径大于测头的直径,所述连接座内部空腔的直径与测杆的外径相匹配。

优选地,所述连接座与锁紧螺母连接的端部呈圆台状,所述端部的直径小于其里侧直径,所述锁紧螺母的外端的内部开孔形状与连接座圆台状端部的匹配,所述锁紧螺母的外端设有与测杆直径相匹配的限位孔,所述千分表通过锁紧螺母在连接座上锁紧进行垂直定位。

有益效果:(1)本实用新型所述测量装置结构简单,成本较低调整方便,操作简单,测量方便,测量精度高,测量结果准确;

(2)本实用新型通过在挡块上设置有长条形孔,通过螺钉对挡块的相对位置进行限定,可以使本实用新型适用于不同直径的待测零件;本实用新型中的千分表伸出测量基座的测头的长度可以根据锁紧螺母进行锁定调整,通过这两个部件的相互配合,可以使本实用新型适用于不同直径的待测零件,提高本实用新型的重复利用率,节约成本。

附图说明

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